Вышедшие номера
Влияние размерности поликристаллической пленки и оптической анизотропии кристаллитов на эффективную диэлектрическую проницаемость пленки
Аверьянов Е.М. 1
1Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Email: aver@iph.krasn.ru
Поступила в редакцию: 29 декабря 2015 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2016 г.

Показано сильное влияние размерности D поликристаллической пленки и анизотропии m = varepsilonz/varepsilonx одноосных кристаллитов с главными компонентами varepsilonx =varepsilon y, varepsilonz тензора диэлектрической проницаемости на эффективную диэлектрическую проницаемость varepsilonD* и показатель преломления nD*= (varepsilonD*)1/2 пленки в оптической области прозрачности, а также на границы интервалов BDl≤varepsilonD*≤ BDu. Интервалы Delta2(m)= B2l - B2u и Delta3(m) = B3l- B3u разделены щелью при 1 < m < 2, а теоретическая зависимость varepsilon2*(m) отделена щелью от интервала Delta3(m) при 1 < m <4. Это подтверждено сравнением экспериментальных (noP) и теоретических (n2*) значений обыкновенного показателя преломления для одноосных поликристаллических пленок сопряженного полимера PPV с одноосными кристаллитами и подходящими значениями m. В видимой области прозрачности пленок PPV при изменении m(lambda) в интервале 2 < m(lambda) < 3 за счет зависимости компонент varepsilonx,z(lambda) от длины световой волны lambda значения noP2(lambda) = varepsilonoP(lambda) согласуются с теоретическими varepsilon2*(lambda) и лежат вне интервала Delta3(m). При m(lambda) > 3 вблизи полосы электронного поглощения кристаллитов значения varepsilonoP(lambda) лежат в области перекрытия интервалов Delta2(m) и Delta3(m). Установлены границы mc областей 1 < m <mc, для которых интервал Delta2(m) отделен щелью от зависимостей varepsilon3*(m), отвечающих теории эффективной среды со сферическими кристаллитами и иерархическим моделям поликристалла, а также от предложенной новой зависимости varepsilon3*(m).
  1. M.K. Debe. J. Vac. Technol. A 10, 2816 (1992)
  2. M.I. Alonso, M. Garriga, J.O. Osso, F. Schreiber, E. Barrena, H. Dosch. J. Chem. Phys. 119, 6335 (2003)
  3. S.Y. Yang, F. Hide, M.A. Diaz-Garcia, A.J. Heeger, Y. Cao. Polymer 39, 2299 (1998)
  4. M. Knaapila, R. Stepanyan, B.P. Lyons, M. Torkkelli, A.P. Monkman. Adv. Funct. Mater. 16, 599 (2006)
  5. B. Watts, T. Schuettfort, C.R. Mac Neil. Adv. Funct. Mater. 21, 1122 (2011)
  6. M. Bai, A.V. Sorokin, D.W. Tompson, M. Poulsen, S. Ducharme, C.M. Herzinger, S. Palto, V.M. Fridkin, S.G. Yudin, V.E. Savchenko, L.K. Gribova. J. Appl. Phys. 95, 3372 (2004)
  7. M. Campoy-Quiles, M.I. Alonso, D.D.C. Bradley, L.J. Richter. Adv. Funct. Mater. 24, 2116 (2014)
  8. R. Burzynski, P.N. Prasad, F.E. Karasz. Polymer 31, 627 (1990)
  9. W.M.V. Wan, N.C. Greenham, R.H. Friend. J. Appl. Phys. 87, 2542 (2000)
  10. Е.М. Аверьянов. Письма в ЖЭТФ 91, 501 (2010)
  11. Е.М. Аверьянов. ФТТ 53, 1832 (2011)
  12. Е.М. Аверьянов. Письма в ЖЭТФ 99, 679 (2014)
  13. M. Campoy-Quiles, P.G. Etchegoin, D.D.C. Bradley. Phys. Rev. B 72, 045 209 (2005)
  14. Z. Hashin, S. Shtrikman. Phys. Rev. 130, 129 (1963)
  15. A. Sihvola. Electromagnetic mixing formulas and applications. The institution of engineering and applications. London (2008). 284 p
  16. Е.М. Аверьянов. Письма в ЖЭТФ 101, 761 (2015)
  17. В.И. Оделевский. ЖТФ 21, 1379 (1951)
  18. D. Stroud. Phys. Rev. B 12, 3368 (1975)
  19. M.W.M. Willemse, W.J. Caspers. J. Math. Phys. 20, 1824 (1979)
  20. J. Helsing, A. Helte. J. Appl. Phys. 69, 3583 (1991)
  21. K. Schulgasser. J. Appl. Phys. 47, 1880 (1976)
  22. K. Schulgasser. J. Phys. C 10, 407 (1977)
  23. А.Е. Морозовский, А.А. Снарский. УФЖ 28, 1203 (1983)
  24. Е.М. Аверьянов. ФТТ 58, 154 (2016)
  25. J. Swiatkiewicz, P.N. Prasad, F.E. Karasz. J. Appl. Phys. 74, 525 (1993)
  26. C. Soci, D. Comoretto, F. Marabelli, D. Moses. Phys. Rev. B 75, 075 204 (2007)
  27. M. Galli, F. Marabelli, D. Comoretto. Appl. Phys. Lett. 86, 201 119 (2005)
  28. G.D. Scholes, G. Rumbles. Nature Mater. 5, 683 (2006)
  29. M. Grell, D.D.C. Bradley, G. Ungar, J. Hill, K. Whitehead. Macromolecules 32, 5810 (1999)
  30. M. Grell, D.D.C. Bradley, X. Long, T. Chamberlain, M. Imbasekaran, E.P. Woo, M. Soliman, Acta Polym. 49, 439 (1998)
  31. A.E. Grishchenko, E.I. Rjumtsev, V.K. Turkov. J. Opt. Technol. 64, 424 (1997)
  32. А.Е. Грищенко, А.Н. Черкасов. УФН 167, 269 (1997)
  33. D. Chen, M.J. Vinokur, M.A. Masse, F. Karasz. Polymer 33, 3116 (1992)
  34. H.V. Shah, J.I. Scheinbeim, G.A. Arbuckle. J. Polym. Sci. B 37, 605 (1999)
  35. C.Y. Yang, K. Lee, A.J. Heeger. J. Mol. Struct. 521, 315 (2000)
  36. E.M. Aver'yanov. J. Opt. Technol. 64, 417 (1997)
  37. C. Soci, D. Comoretto, F. Marabelli, D. Moses. Proc. SPIE. 5517, 98 (2004)
  38. W.M.V. Wan, R.H. Friend, N.C. Greenham, Thin Solid Films 363, 310 (2000)
  39. И.М. Лифшиц, М.И. Каганов, В.М. Цукерник. Уч. зап. ХГУ 2, 41 (1950)
  40. Ю.А. Рыжов, В.В. Тамойкин. Изв. вузов. Радиофизика 13, 356 (1970)
  41. В.Г. Болтянский, Н.Я. Виленкин. Симметрия в алгебре. Наука, М. (1967). 284 с.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.