Вышедшие номера
Зависимость свойств эпитаксиальных тонких пленок титаната бария-стронция при изменении толщины
Широков В.Б.1,2, Головко Ю.И.1, Мухортов В.М.1,2, Юзюк Ю.И.2, Janolin P.E.3, Dkhil B.3
1Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
2Южный федеральный университет, Ростов-на-Дону, Россия
3LSPMS, Ecole Centrale Paris, Paris, France
Email: shirokov-vb@rambler.ru
Поступила в редакцию: 8 декабря 2014 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2015 г.

Проведены исследования гетероэпитаксиальных тонких пленок BaxSr1-xTiO3 различной толщины в параэлектрической фазе при температуре 600oC. Параметры решетки пленки показывают нелинейную зависимость от толщины. С уменьшением толщины происходит увеличение вынужденной деформации и увеличивается объем элементарной ячейки. Поведение вынужденной деформации при изменении толщины хорошо описывается в модели двойного электрического слоя, образовавшегося в процессе синтеза пленки на границе с подложкой. Работа выполнена при поддержке РФФИ (гранты N 13-02-00251а, 13-02-12085-ОФИ_М и 13-01-90619 Арм_а).