Вышедшие номера
Анализ локальной атомной структуры марганца и его оксидов методом спектроскопии протяженных тонких структур энергетических потерь электронов
Бакиева О.Р.1, Немцова О.М.1, Сурнин Д.В.1, Гай Д.Е.1
1Физико-технический институт Уральского отделения Российской академии наук, Ижевск, Россия
Email: ftiran@mail.ru
Поступила в редакцию: 11 декабря 2014 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2015 г.

Предложена методика определения параметров локальной атомной структуры системы марганец-кислород методом спектроскопии протяженных тонких структур энергетических потерь электронов. Получены экспериментальные спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов с чистой металлической поверхности марганца и его стехиометрических оксидов. Из экспериментальных спектров выделены нормированные осциллирующие части, анализ которых проведен методом решения обратной задачи с использованием регуляризации по Тихонову. Получены параметры локальной атомной структуры исследуемых объектов - координационные числа, длины химической связи и параметры их дисперсии. Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ N 14-02-31488 и Программы президиума РАН. Проект N 12-П-2-1013.
  1. B.M. Kincaid, A.E. Meixner, P.M. Platzman. Phys. Rev. Lett. 40, 1296 (1978)
  2. J.J. Ritsko, P.C. Gibbons, S.E. Schnattery. Phis. Rev. Lett. 32, 671 (1974)
  3. R.D. Leapman, I.A. Grunes, P.L. Fejes. Phys. Rev. B 26, 541 (1982)
  4. M. DeCrescenzi, L. Papagno, G. Chiarello. Solid State Commun. 40, 613 (1987)
  5. M. De Crescenzi. Critic. Rev. Solid State Mater. Sci. 15, 3, 279 (1989)
  6. M. De Crescenzi. Surf. Sci. Rep. 21, 89 (1995)
  7. T. Fujikawa. Electron Energy Loss Spectroscopy for Surface Study. Handbook of Thin Film Materials. (2000) v. 2, p. 415
  8. Д.И. Кочубей, Ю.А. Бабанов, К.И. Замараев, Р.В. Ведринский. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел. Наука, Новосибирск (1988). 301 с
  9. Б.В. Андрюшечкин, К.Н. Ельцов, А.Н. Климов. Тр. Ин-та общей физики им. А.М. Прохорова 59, 23 (2003)
  10. D.E. Guy, D.V. Surnin, A.N. Deev, Yu.V. Ruts. J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena 95, 193 (1998)
  11. Yu.V. Ruts, D.E. Guy, D.V. Surnin, V.I. Grebennikov. In: Handbook of Surfaces and Interfaces of Materials / Ed. H.S. Nalwa. V. 2. Surface and Interface Analysis and Properties. Ch. 14, 1 (2001)
  12. Д.Е. Гай, В.И. Гребенников, Д.В. Сурнин, О.Р. Желтышева. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования 11, 81 (2003)
  13. O.R. Zheltysheva, D.E. Guy, D.V. Surnin, Y.V. Ruts, V.I. Grebennikov. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A 543, 244 (2005)
  14. E. Clementi, C.C.J. Roothaan, M. Yoshimine. Phys. Rev. 127, 5, 1618 (1962)
  15. E. Clementi, C. Roetti. At. Data Nucl. Data Tables 14, 11 760 (1974)
  16. J.J. Rehr, R.C. Albers. Rev. Mod. Phys. 72, 3, 621 (2000)
  17. А.Л. Агеев, Н.В. Ершов, В.Р. Швецов, Ю.А. Бабанов, В.В. Васин. Длина химической связи. Комплекс программ обработки данных рентгеноспектрального структурного анализа. АН СССР, УНЦ, Ин-т математики и механики, Свердловск (1987). 87 с
  18. А.П. Бабичев Н.А. Бабушкина, А.М. Братковский. Физические величины. Справочник. Наука, М. (1991). 1232 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.