Афанасьев М.С.1, Набиев А.Э.2, Чучева Г.В.1
1Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Фрязино, Россия
2Азербайджанский государственный педагогический университет, Баку, Азербайджан
Email: gvc@ms.ire.rssi.ru
Поступила в редакцию: 19 августа 2014 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2015 г.
Рассматривается метод оптического мониторинга процесса осаждения сегнетоэлектрических пленок состава Ba0.8Sr0.2TiО3, выращенных методом высокочастотного реактивного плазмохимического осаждения. Исследования плазмы в оптическом диапазоне показали, что спектр излучения на длинах волн lambda>450 nm не претерпевает изменений в интервалах варьирования напряжения смещения. При lambda=300-400 nm наблюдается корреляция спектров излучения пленкообразующей среды при различных напряжениях мишень-подложка. Масс-спектры пленкообразующей среды показали, что при напряжениях смещения U=350-600 V в газовой фазе в основном регистрируются ионизированные частицы с массовым числом 220-240, близким к молярной массе соединения Ba0.8Sr0.2TiО3± x. При U>650 V наряду с образованием многоатомных частиц в газовой фазе присутствуют ионы с массовыми числами, соответствующими химическому составу компонент мишени BaTiО3, SrTiО3, BaО, SrО. Показано, что на границе раздела фаз существует переходный слой, обогащенный материалом подложки. Установлено, что мониторинг пленкообразующей среды и временной фактор позволяют воспроизводимо выращивать наноразмерные пленки с заданными кристаллохимическими параметрами. Работа выполнена при частичной поддержке РФФИ (гранты N 12-07-00662-а, 13-07-00782-а) и Программы фундаментальных исследований Президиума РАН "Основы фундаментальных исследований нанотехнологий и наноматериалов".
- A. Marcu, C. Grigoriu, W. Jang. Thin Solid Films 360, 166 (2000)
- Y. Takamura, N. Yamaguchi, K. Terashima. J. Appl. Phys. 84, 5084 (1998)
- В.М. Мухортов, Ю.И. Юзюк. Гетероструктуры на основе наноразмерных сегнетоэлектрических пленок: получение, свойства и применение. Изд-во Южного научного центра РАН, Ростов на/Д (2008). С. 36
- E. Brecht, J. Reiner, M. Rodewald, G. Linker. Thin Solid Films 319, 202 (1998)
- I. Lee, R. Ramesh, V.G. Keramidas, O. Anciello. Integr. Ferroelectrics 8, 317 (1995)
- A. Herman. V. Badri. J. Supercond. 12, 139 (1999)
- М.С. Афанасьев, М.С. Иванов. ФТТ 51, 1259 (2009)
- Экспериментальная ядерная физика / Под ред. Э. Серге. ИИЛ, М. (1955). Т. 1--3
- В.К. Егоров, О.С. Кондратьев. Перспективные материалы 1, 70 (2000)
- В.К. Егоров, М.С. Афанасьев, Г.В. Чучева, П.А. Лучников, А.В. Буров. Наноматериалы и наноструктуры --- XXI век 2, 50 (2011)
- Технология тонких пленок / Под ред. Л. Майссела, Р. Глэнга. Сов. радио, М. (1977). Т. 2. С. 97
- В.И. Векслер. Вторичная ионная эмиссия. Наука, М. (1978). 147 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.