Механизм переноса тока в инжекционном фотоприемнике на основе структуры M(In)-n-CdS-p-Si-M(In)
Мирсагатов Ш.А.1, Сапаев И.Б.1
1Физико-технический институт НПО ”Физика−Солнце“ Академии наук Республики Узбекистан, Ташкент, Узбекистан
Email: mirsagatov@uzsci.net
Поступила в редакцию: 16 сентября 2014 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2015 г.
Проведен анализ механизма переноса тока в новом типе селективного (с перестраиваемым спектром) инжекционного фотоприемника с внутренним усилением на основе структуры M(In)-n-CdS-p-Si-M(In). Показано, что в этой структуре происходит взаимная компенсация встречных дрейфовых и диффузионных потоков носителей заряда. Встречные дрейфовые и диффузионные потоки неравновесных носителей при плотностях обратного тока I~10-8-10-7 A/cm2 приводят к появлению точек инверсии знака фоточувствительности в коротковолновой и в длинноволновой областях спектра. Взаимная компенсация встречных дрейфовых и диффузионных потоков при плотностях тока порядка ~10-6 A/cm2 приводит к появлению сублинейного участка на обратной вольт-амперной характеристике в широком диапазоне напряжений смещения. Установлено, что гетеропереход n-SdS-p-Si имеет низкую плотность поверхностных состояний и это позволяет получить на основе рассматриваемой структуры инжекционный фотоприемник с высокой спектральной (Slambda=5.0·104 A/W) и интегральной (Sint=2.8·104 A/lm или 4.5·106 A/W) чувствительностью в прямом направлении тока.
- И.М. Колдаев, В.В. Лосев, Б.М. Орлов. ФТП 18, 1316 (1984)
- Ш.А. Мирсагатов, А.К. Утениязов. Письма в ЖТФ 38, 1, 70 (2012)
- Ш.А. Мирсагатов, Р.Р. Кабулов, М.А. Махмудов. ФТП 47, 6, 815 (2013)
- Ш.А. Мирсагатов, О.К. Атабоев, Б.Н. Заверюхин. Физ. инженерия поверхности 11, 1, 4 (2013)
- А.С. Саидов, А.Ю. Лейдерман, Ш.Н. Усмонов, К.Т. Холиков. ФТП 43, 4, 436 (2009)
- А. Милнс, Д. Фойхт. Гетеропереходы и переходы металл--полупроводник / Под ред. В.С. Вавилова. Мир, М. (1975). 425 с
- И.Б. Сапаев. ДАН Узбекистана 2, 27 (2013)
- Э. Фриш.Оптические методы измерений. Изд-во ЛГУ, Л. (1976). Ч. I. 392 c
- В.И. Фистуль. Физика и химия твердого тела. Металлургия, М. (1995). Т. 1, 2
- http://zaz.gendocs.ru/docs/2800/index-1621226.html
- A.M. Lampert, P. Mark. Current injection in solids. Academic Press, N.Y.--London (1970). 416 p
- Э.И. Адирович, П.М. Карагеоргий-Алкалаев, А.Ю. Лейдерман. Токи двойной инжекции в полупроводниках. Сов. радио, М. (1978). 126 с
- П.М. Карагеоргий-Алкалаев, А.Ю. Лейдерман. Фоточувствительность полупроводниковых структур с глубокими примесями. Фан, Ташкент (1981). 200 c
- S.M. Sze. Physics of semiconductor devices. John Wiley and Sons, N.Y.--Chichester--Brisbane--Toronto--Singapore (1981). V. 1. 386 p
- В.Г. Георгиу. Вольт-фарадные измерения параметров полупроводников. Штиинца, Кишинев (1987) С. 15
- Ш.А. Мирсагатов, А.К. Утениязов, А.С. Ачилов. ФТТ 54, 9, 1643 (2012).
- И.М. Викулин, В.И. Стафеев. Физика полупроводниковых приборов. Сов. радио, М. (1980) 293 с.
- П.Т. Орешкин. Физика полупроводников и диэлектриков. Высш. шк., (1977). 447 с
- W. Shockley. Bell Syst. Techn. J. 28, 4351 (1949)
- В.И. Cтафеев. ЖТФ 28, 1631 (1958)
- В.В. Осипов, В.И. Стафеев. ФТП 1, 12, 1796 (1967)
- И.М. Викулин, Ш.Д. Курмашев, В.И. Стафеев. ФТП 42, 1, 113 (2008)
- V.I. Stafeev, V.M. Tuchkevich. Rep. 19th Ann. Conf. Phys. Electr. MIT, Cambridge, MA (1959). V. 1. P. 139
- И.Д. Анисимова, И.М. Викулин, Ф.А. Заитов, Ш.Д. Курмашев. В кн.: Полупроводниковые фотоприемники / Под. ред. В.И. Стафеева. Радио и связь, М. (1984). C. 101
- А. Амброзяк. Конструкция и технология полупроводниковых фотоэлектрических приборов. Сов. радио, М. (1970). 392 с.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.