Получены упорядоченные плотноупакованные не содержащие дефектов структуры одно-, двух- и трехслойные пленки из SiO₂-сфер диаметром D от 0.6 до 1.4 mum. Измерены спектры их оптического пропускания и отражения в спектральном диапазоне от 0.3 до 2.5 eV. В однослойных структурах обнаружен минимум пропускания, спектральное положение которого описывается законом Брэгга с межплоскостным расстоянием, равным радиусу сфер D/2. С увеличением числа слоев в спектрах появляется особенность, соответствующая формированию фотонной запрещенной зоны в направлении < 111> ГЦК-решетки кристалла и определяемая расстоянием между плоскостями 111, равным 0.816D. В спектрах двух- и трехслойных структур, измеренных с помощью расходящегося светового пучка, наблюдаются дополнительные линии, обусловленные формированием фотонных запрещенных зон плоскостями 211 и 221. Работа выполнена при частичной финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект N 01-02-97024).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.