Издателям
Вышедшие номера
Атомно-силовая микроскопия поляризационных доменов в сегнетоэлектрических пленках
Анкудинов А.В.1, Титков А.Н.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: Alexander.Ankudinov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 14 июля 2004 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2005 г.

Методом контактной электростатической силовой микроскопии исследованы тонкие монокристаллические PbZr0.47Ti0.53O3 (001) и поликристаллические PbZr0.47Ti0.53O3 (111) сегнетоэлектрические пленки. Проведены измерения величины локального электромеханического отклика, которые позволили изучить распределение вектора поляризации в естественных, а также в направленно-созданных поляризационных нанодоменах в пленках. Выделены и проанализированы основные компоненты сигнала электромеханического отклика, возникающие при исследовании сегнетоэлектрических пленок: пьезоотклик и дополнительный емкостный вклад. На модельном и экспериментальном уровне продемонстрировано влияние жескости контакта зонд--поверхность на емкостный вклад в сигнал электромеханического отклика. Показано, что для получения бoлее точной информации о распределении вектора поляризации в сегнетоэлектрических пленках необходимо контролировать локальные изменения жесткости контакта зонд--поверхность. Работа поддержана Министерством образования и науки в рамках контракта "Диагностические методы и оборудование для метрологии, анализа компонентов и микроструктур технологии микро- и наноэлектроники", а также Российским фондом фундаментальных исследований (грант N 03-02-17635).
  1. O. Kolosov, A. Gruverman, J. Hatano, K. Takahashi, H. Tokumoto. Phys. Rev. Lett. 74, 4309 (1995)
  2. D. Damjanovic. Rep. Prog. Phys. 61, 1267 (1998)
  3. А.С. Сигов. Сорос. образоват. журн. 10, 83 (1996)
  4. Yasuo Cho, Kenjiro Fujimoto, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Wagatsuma, Atsushi Onoe, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura. Appl. Phys. Lett. 81, 23, 4401 (2002)
  5. K. Franke, H. Huelz, M. Weihnacht. Surf. Sci. 415, 178 (1998)
  6. J.W. Hong, K.H. Noh, Sang-iL Park, S.I. Kwun, Z.G. Khim. Phys. Rev. B 58, 5078 (1998)
  7. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques and Applications / Ed. D.A. Bonnell. Willey-VCH, N. Y. (2001). Ch. 7
  8. A. Gruverman, B.J. Rodriquez, R.J. Nemanich, A.I. Kingon. J. Appl. Phys. 92, 2734 (2002)
  9. M. Alexe, C. Harnagea, D. Hesse, U. Gosele. Appl. Phys. Lett. 79, 242 (2001)
  10. S.V. Kalinin, D.A. Bonnell. Phys. Rev. B 65, 125 408 (2002)
  11. S. Honga, J. Woo, H. Shin, J.U. Jeon, Y. Eugene Pak, E.L. Colla, N. Setter, E. Kim, K. No. J. Appl. Phys. 89, 1377 (2001)
  12. М. Лайнс, А. Гласс. Сегнетоэлектрики и родственные им материалы. Мир, М. (1981). 736 с
  13. S. Sridhar, A.E. Giannakopoulos, S. Suresh, U. Ramamurty. J. Appl. Phys. 85, 380 (1999)
  14. A.E. Giannakopoulos, S. Suresh. Acta Mater. 47, 2153 (1999)
  15. S.V. Kalinin. Ph. D. Thesis. http://sergei2.kalininweb.com (2002)
  16. P. Maivald, H.J. Butt, S.A.C. Gould, C.B. Prater, B. Drake, J.A. Gurley, V.B. Elings, P.K. Hansma. Nanotechnology 2, 103 (1991)
  17. J. Rodriguez Contreras, J. Schubert, U. Poppe, O. Trithaveesak, K. Szot, Ch. Buchal, H. Kohlstedt, R. Waser. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 688, C8.10 (2002)
  18. N.A. Pertsev, J. Rodriguez Contreras, V.G. Kurhar, B. Hermanns, H. Kohlstedt, R. Waser. Appl. Phys. Lett. 83, 16, 3356 (2003)
  19. http://www.ntmdt.ru
  20. A. Gruverman, A. Kholkin, A. Kingon, H. Tokumoto. Appl. Phys. Lett. 78, 2751 (2001)
  21. A.V. Ankudinov, A.N. Titkov. Proc. Int. Workshop SPM-2004. Nizhny Novgorod (2004). P. 60
  22. Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц. Теория упругости. Физматлит, М. (2001)
  23. U. Rabe, J. Janser, W. Arnold. Rev. Sci. Instr. 67, 9, 3281 (1996)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.