Отличие электромагнитных свойств льда D2O и H2O при измерениях в резонаторах
Бордонский Г.С.1, Филиппова Т.Г.1
1Читинский институт природных ресурсов Сибирского отделения Российской академии наук, Чита, Россия
Поступила в редакцию: 23 ноября 2000 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2001 г.
Измерены диэлектрические параметры льда H2O и D2O с использованием резонаторов вблизи частоты 6 GHz. В интервале температур от 0 до -130oC сравнивались зависимости отношения полуширин резонансных линий для легкого и тяжелого льдов. Установлено качественное различие температурной зависимости асимметрии резонансных кривых. Графики зависимости отношения верхней по частоте полуширины резонансной линии к нижней полуширине по уровню 0.5 для легкого льда имеют положительный наклон, а для тяжелого льда наблюдается отрицательный наклон. Предполагается, что эффект связан с различием квантовых статистик ядер атомов водорода и дейтерия.
- А.А. Брандт. Исследования диэлектриков на сверхвысоких частотах. М. (1963). 403 с
- С.Д. Крылов. Диэлектрические характеристики химически чистого льда и льда из тяжелой воды (D2O) в СВЧ-диапазоне. Деп. в ВИНИТИ 21.08.1998, рег. N 2621-B98. 16 с
- Г.С. Бордонский, С.Д. Крылов. Журнал физической химии 75, 5, 938 (2001)
- Р.Р. Нигматуллин. Автореф. канд. дис. Казанский университет (1992)
- R.P. Auty, R.H. Cole. J. Chem. Phys. 20, 8, 1309 (1952)
- A. Amoruso. Phys. Rev. B 57, 13, 7415 (1998)
- В.К. Малиновский, В.Н. Новиков, А.П. Соколов. Физика и химия стекла 15, 3, 331 (1989)
- Y. Feldman, N. Kozlovich, Y. Alexandrov. Phys. Rev. E54, 5, 5420 (1996)
- Р.Р. Нигматуллин, Я.Е. Рябов. ФТТ 39, 1, 101 (1997)
- N. Lyakhov. In: Reactivity of solid: Past, Present and Future, Chemistry for the 21-st century / Ed. by V.V. Boldyrev. Blackwell Science (1997). P. 121
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук