Издателям
Вышедшие номера
Исследование электронных спектров благородных металлов методом обратного рассеяния электронов низких энергий
Попик Т.Ю.1, Шпеник О.Б.1, Попик Ю.В.2
1Институт электронной физики НАН Украины, Ужгород, Украина
2Ужгородский государственный университет, Ужгород, Украина
Email: an@zvl.iep.uzhgorod.ua
Поступила в редакцию: 28 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2001 г.

С помощью разработанного гипоциклоидального электронного спектрометра с высоким энергетическим (=<50 meV) и угловым разрешениями (~1o-5o) методом спектроскопии обратного рассеяния электронов низких энергий (0-10 eV) проведены исследования особенностей плотности заполненных электронных состояний благородных металлов (Au, Ag, Cu) ниже уровня Ферми. Установлено, что особенности в спектрах отражения электронов хорошо согласуются с экстремумами теоретически рассчитанных энергетических распределений плотностей состояний. Полученные результаты существенно дополняют данные методов ультрафиолетовой и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопий.
  1. В.В. Немошкаленко, В.Г. Алешин. Электронная спектроскопия кристаллов. Наук. думка, Киев (1983). 288 с
  2. Электронная и ионная спектроскопия твердых тел / Под ред. Л. Фирменса, Дж. Вэнника, В. Декейсера. Мир, М. (1981). 467 с
  3. Применение электронной спектроскопии для анализа поверхности / Под ред. Х. Ибаха. Зинатне, Рига (1980). 315 с
  4. Д. Вудраф, Т. Делчар. Современные методы исследования поверхности. Мир, М. (1989). 568 с
  5. Т.А. Карлсон. Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия. Машиностроение, Л. (1981). 431 с
  6. Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса, М. Сиха. Мир, М. (1987). 598 с
  7. Методы анализа поверхности / Под ред. А. Зандерны. Мир, М. (1979). 582 с
  8. С.А. Комолов. Интегральная вторично-электронная спектроскопия поверхности. Изд-во ЛГУ, Л. (1986). 180 с
  9. Leon Sanche. J. Chem. Phys. 71, 12, 4860 (1979)
  10. О.Б. Шпеник, Н.М. Эрдевди, Н.И. Романюк, Т.Ю. Попик, А.Н. Завилопуло. ПТЭ 41, 1, 66 (1998)
  11. N.E. Christensen, B.O. Seraphin. Phys. Rev. B4, 3321 (1971)
  12. D.A Shirley. Phys. Rev. B5, 12, 4709 (1972)
  13. J.L. Freeouf, M. Erbudak, D.E. Eastman. Solid State Commun. 13, 7, 771 (1973)
  14. S. Hufner, G.K. Wertheim, N.V. Smith, M.M. Traum. Solid State Commun. 11, 2, 323 (1972)
  15. V.V. Nemoshkalenko, A.I. Senkevich, M.A. Midlina, V.G. Aleshin. Phys. State. Sol. B56, 2, 771 (1973)
  16. S. Hufner, G.K. Wertheim. Phys. Lett. 47A, 5, 349 (1974)
  17. С.А. Фридрихов, С.М. Мовин. Физические основы электронной техники. Высшая шк., М. (1982). 607 с
  18. В.Н. Строков, А.В. Штанько, С.А. Комолов. Вестн. ЛГУ 4, 1, 7 (1990)
  19. R.C. Dobbyn, M.L. Williams, J.R. Cuthill, A.J. McAlister. Phys. Rev. B2, 16, 1563 (1970)
  20. J.A. Knapp, F.J. Himpsel, D.E. Eastman. Phys. Rev. B19, 4952 (1979)
  21. N.V. Smith, R.L. Benbow, Z. Hurych. Phys. Rev. B21, 4331 (1980)
  22. Э.Зенгуил. Физика поверхности. Мир, М. (1990). 536 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.