Вышедшие номера
Наведенные светом собственные дефекты в керамике PLZT
Лагута В.В.1, Глинчук М.Д.1, Слипенюк А.М.1, Быков И.П.1
1Институт проблем материаловедения Академии наук Украины, Киев, Украина
Email: dep4@materials.kiev.ua
Поступила в редакцию: 26 апреля 2000 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2000 г.

Представлены результаты исследования ЭПР сегнетоэлектрической 1.8/65/35 и антисегнетоэлектрической 2/95/5 оптически прозрачной керамики Pb1-yLayZr1-xTixO3 (PLZT) в широком температурном интервале (20-300 K) после облучения светом длиной волны 365-725 nm. Облучение ультрафиолетовым светом, энергия которого соответствует ширине запрещенной зоны этих материалов, при T<50 K приводит к появлению ряда фотоиндуцированных центров: Ti3+, Pb+ и Pb3+. Показано, что данные центры образуются вблизи примеси лантана, замещающей как ион Pb2+, так и частично Ti4+ путем захвата носителей заряда из зоны проводимости или валентной зоны узельными ионами решетки. Измерены температурные интервалы стабильности этих центров, а также определено положение их локальных уровней энергии в запрещенной зоне. Самым мелким является Ti3+ - его энергетический уровень расположен на 47 meV ниже дна зоны проводимости. Центры Pb3+ и Pb+ создают более глубокие локальные уровни, в керамике PLZT 2/95/5 они устойчивы до комнатной температуры. Для обоих составов керамики изучены процессы миграции локализованных носителей заряда. Показано, что с повышением температуры или под действием красного света ионизированные в зону проводимости с Ti3+ электроны перехватываются на более глубокие центры Pb+, препятствуя дрейфу носителей в зоне и проявлению фотопроводимости. Обсуждается роль локализованных зарядов в электрооптических явлениях, имеющих место в керамике PLZT.