Вышедшие номера
Морфология поверхностей (001) и (110) кристаллических слоев твердых растворов соединений II--VI с большим содержанием ZnSe в атмосферных условиях
Анкудинов А.В.1, Дунаевский М.С.1, Марущак В.А.1, Титков А.Н.1, Иванов С.В.1, Сорокин С.В.1, Шубина Т.В.1, Копьев П.С.1, Baar A.2, Ландвер Г.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Physikalisches Institut der Universitat Wurzburg, Wurzburg, Germany
Поступила в редакцию: 10 марта 2000 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2000 г.

Методом атомно-силовой микроскопии исследовалось влияние атмосферных условий на морфологию ростовых поверхностей (001) и сколов (110) слоев соединений II-VI с высоким содержанием ZnSe. Впервые непосредственно показано, что формирование нанокластеров на таких поверхностях сопровождается коррозией всей поверхности и происходит за счет накопления продуктов коррозии. Коррозия поверхности насыщается на глубине уже в несколько монослоев (2-3 монослоя), что задает предел суммарного объема нанокластеров на поверхности. Дальнейшее увеличение размера нанокластеров во времени происходит за счет уменьшения их числа. Глубина коррозии может локально сильно возрастать в местах поверхности со значительными внутренними напряжениями и, в частности, развиваться глубоко внутрь напряженных интерфейсов в приборных структурах. Работа выполнена при поддержке Фонда Фольксваген и Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 00-02-16948).
  1. S.V. Ivanov, A.A. Toropov, S.V. Sorokin, T.V. Shubina, I.V. Sedova, A.A. Sitnikova, P.S. Kop'ev, Z.I. Alferov, A. Waag, H.-J. Lugauer, G. Reuscher, M. Keim, G. Landwehr. Appl. Phys. Lett. 74, 498 (1999)
  2. Q. Xie, A. Kalburge, P. Chen, A. Madhukar. Photonics Technol. Lett. 8, 965 (1996)
  3. N. Kirstaedter, O.G. Shmidt, N.N. Ledentsov, D. Bimberg, V.M. Ustinov, A.Yu. Egorov, A.E. Zhukov, M.V. Maximov, P.S. Kop'ev, Zh.I. Alferov. Appl. Phys. Lett. 69, 1226 (1996)
  4. S.V. Ivanov, A.A. Toropov, T.V. Shubina, S.V. Sorokin, A.V. Lebedev, I.V. Sedova, P.S. Kop'ev, G.R. Pozina, J.P. Bergman, B. Monemar. J. Appl. Phys. 83, 3168 (1998)
  5. D. Hommel, K. Leonardi, H. Heinke, H. Selke, K. Ohkawa, F. Gindele, U. Woggon. Phys. Stat. Sol. (b) 202, 835 (1997)
  6. H. Kirmse, R. Schneider, M. Rabe, W. Neumann, F. Henneberger. Appl. Phys. Lett. 72, 1329 (1998)
  7. A. Sitnikova, S. Sorokin, T. Shubina, I. Sedova, A. Toropov, S. Ivanov, M. Willander. Thin Solid Films 336, 76 (1998)
  8. T. Shubina, S. Sorokin, A. Toropov, I. Sedova, A. Sitnikova, A. Ankudinov, A. Titkov, S. Ivanov, I. Yamakawa, M. Ichida, A. Nakamura. Proc. of the 24th International Conference on the Physics Semiconductors, Jerusalem, Israel. Mo-P33 (1998)
  9. J.C. Kim, H. Rho, L.M. Smith, H.E. Jackson, S. Lee, M. Dobrowolska, J.L. Merz, J.K. Furdyna. Appl. Phys. Lett. 73, 3399 (1998)
  10. T. Kummell, R. Weigand, G. Bacher, A. Forchel, K. Leonardi, D. Hommel, H. Seike. Appl. Phys. Lett. 73, 3106 (1998)
  11. R.N. Kyutt, A.A. Toropov, S.V. Sorokin, T.V. Shubina, S.V. Ivanov, M. Karlsteen, M. Willander. Appl. Phys. Lett. 75, 373 (1999)
  12. R. Notzel. Semicond. Sci. Technol. 11, 1365 (1996)
  13. S.H. Xin, P.D. Wang, A.Yin, C. Kim, M. Dobrowolska, J.L. Merz, J.K. Furdyna. Appl. Phys. Lett. 69, 3884 (1995)
  14. M. Arita, A. Avramescu, K. Uesugi, I. Suemune, T. Numai, H. Machida, N. Shimoyama. Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 36, 4097 (1996)
  15. H.-C. Ko, D.-C. Park, Y. Kawakami, S. Fujita, S. Fujita. Appl. Phys. Lett. 70, 3278 (1997)
  16. S. Lee, I. Daruka, C.S. Kim, A.-L. Barabasi, J.L. Merz, J.K. Furdyna. Phys. Rev. Lett. 81, 3479 (1998)
  17. J.B. Smathers, E. Kneedler, B.R. Bennet, B.T. Jonker. Appl. Phys. Lett. 72, 1238 (1998)
  18. X.B. Zhang, S.K. Hark. Appl. Phys. Lett. 74, 3857 (1999)
  19. S.V. Ivanov, A.A. Toropov, T.V. Shubina, S.V. Sorokin, A.V. Lebedev, I.V. Sedova, P.S. Kop'ev, G.R. Pozina, J.P. Bergman, B. Monemar. J. Appl. Phys. 83, 3168 (1998)
  20. http://members.xoom.com/Alex/Kryzh
  21. И.М. Лифшиц, В.В. Слезов. ЖЭТФ 35, 479 (1958)
  22. Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц. Теоретическая физика. Т. 7. Теория упругости. Наука, М. (1987). С. 49
  23. R. Chicon, M. Ortuno, J. Abellan. Surf. Science. 181, 107 (1987)
  24. C. Verie. Journal of Electronic Materials 27, 782 (1998)
  25. A.V. Ankudinov, A.N. Titkov, T.V. Shubina, S.V. Ivanov, P.S. Kop'ev, H.-J. Lugauer, G. Reuscher, M. Keim, A. Waag, G. Landwehr. Appl. Phys. Lett. 75, 2626 (1999).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.