Вышедшие номера
Перераспределение электронной плотности в Bi2Te3, легированном Sn
Гасенкова И.В.1, Житинская М.К.2, Немов С.А.2, Свечникова Т.Е.3
1Институт электроники Академии наук Белоруссии, Минск, Белоруссия
2Санкт-Петербургский государственный технический университет, Санкт-Петербург, Россия
3Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 22 декабря 1998 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1999 г.

Перераспределение плотности электронных состояний в валентной зоне, энергии связи и химические сдвиги остовных уровней теллура и висмута, обусловленные введением примесных атомов олова в Bi2Te3, исследованы методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Обнаружено значительное увеличение плотности электронных состояний ниже вершины валентной зоны в области энергий mu~ 15-30 meV. Найденная особенность в энергетическом спектре определяет необычное поведение кинетических коэффициентов в кристаллах p-Bi2Te3 : Sn.