Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Рентгеноспектральный микроанализ четверных полупроводниковых твердых растворов и его применение к системе (SnTe--SnSe) : In
1Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия 
2Санкт-Петербургский государственный технический университет, Санкт-Петербург, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный технический университет, Санкт-Петербург, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 3 сентября 1998 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1999 г.
Разработана надежная методика локального определения химического состава многокомпонентных полупроводниковых твердых растворов и проверена возможность ее применения к системе четверных твердых растворов SnTe-SnSe, легированных 16 at% In. Изучено поведение электрического сопротивления образцов данных твердых растворов при низких температурах 0.4-4.2 K. Определены критическая температура Tc и второе критическое магнитное поле Hc2 сверхпроводящего перехода и их зависимости от состава твердых растворов. Сверхпроводящий переход с Tc~ 2-3 K обусловлен заполнением дырками резонансных состояний примеси In, наблюдаемое изменение параметров сверхпроводящего перехода при увеличении содержания Se в твердом растворе связывается со взаимным смещением экстремумов валентной зоны и полосы резонансных состояний In.
- А.В. Березин, М.К. Житинская, С.А. Немов, Р.В. Парфеньев, Д.В. Шамшур. ФТТ 34, 4, 1216 (1992)
- В.И. Кайданов, Ю.И. Равич. УФН 145, 1, 51 (1985)
- Г.С. Бушмарина, И.А. Драбкин, В.В. Компаниец, Р.В. Парфеньев, Д.В. Шамшур, М.А. Шахов. ФТТ 28, 4, 1094 (1986)
- В.И. Кайданов, С.А. Немов, Ю.И. Равич. ФТП 26, 201 (1992).
- R.V. Parfeniev, D.V. Shamshur, M.A. Shakhov, Zb. Chrapkiewicz. J. of Alloys and Compounds 219, 313 (1995)
- R.A. Hein, P.H.E. Meier. Phys. Rev. 179, 2, 497 (1969)
- H.R.O'Neal, N.E. Phillips. Phys. Rev. A748, 137 (1965)
- H. Miyauchi, T. Nakajima, E. Kanda. J. Phys. Soc. Jpn. 34, 282 (1973.)
- С.Г. Конников, А.Ф. Сидоров. Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов. Энергия, М. (1978). 136 с
- Количественный электронно-зондовый микроанализ/ Под ред. В. Скотта, Г. Лава. Мир, М. (1986). 352 с
- Л.А. Павлова, Л.Ф. Парадина. Рентгеноспектральный микроанализ и его применение в минералогии. Якутский научный центр СО АН СССР, Якутск (1990). 188 с
- В.П. Афонин, В.И. Лебедь. Метод Монте-Карло в рентгеноспектральном микроанализе. Наука, Новосибирск (1989). 150 с
- В.А. Мошников, Д.А. Яськов. Рентгеноспектральный микроанализ в физической химии полупроводников. Учеб. пособие. ЛЭТИ, Л. (1986). 48 с
- С. Рид. Электронно-зондовый микроанализ. Пер. с англ. Мир, М. (1979). 423 с
- А.И. Заславский, Т.Т. Дедегкаев, А.Ф. Сидоров. Графоаналитический микрозондовый анализ тройных систем. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Машиностроение, 17, 163 Л. (1975)
- R. Assenov, A. Moshnikov, B. Patarov, D. Yaskov. Cryst. Res. Techn. 22, 10, 1289 (1987)
- Г.С. Бушмарина, И.А. Драбкин, М.А. Квантов, О.Е. Квятковский. ФТТ 32, 10, 2869 (1990)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
