Вышедшие номера
Фототрансформация пленок C60 в присутствии и в отсутствие кислорода
Макарова Т.Л.1, Сахаров В.И.1, Серенков И.Т.1, Вуль А.Я.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 23 июля 1998 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 1999 г.

На пленках фуллеренов C60, полученных дискретным испарением в квазизамкнутом объеме, методами эллипсометрии и резерфордовского обратного рассеяния исследованы состав и структура, а также изменения, вызванные воздействием лазерного излучения. Исходная пленка характеризуется присутствием стабильного верхнего слоя толщиной 150 Angstrem и соотношением атомов углерода и кислорода 10 : 1. Формирование нерастворимой фототрансформированной фазы происходит при экспозиции как в вакууме, так и на воздухе, однако во втором случае изменение показателя преломления указывает на образование соединений с кислородом. Полной полимеризации материала не происходит, несмотря на то что структурные изменения прекращаются при дозе излучения, равной 104 фотонов на молекулу фуллерена. Обработка полимеризованной фазы в органических растворителях приводит к формированию пористой структуры, причем фракция пустот составляет 48% в случае экспозиции в вакууме и 30% при экспозиции на воздухе.
  1. Y. Iwasa, T. Arima, R.M. Fleming, T. Siegrist, O. Zhou, R.C. Haddon, L.J. Rothberfg, K.B. Lyons, H.L. Carter, Jr., A.F. Hebard, R. Tycko, G. Dabbagh, J.J. Kraewskii, G.A. Thomas, T. Yagi. Science 264, 1570 (1994)
  2. A.M. Rao, P.K. Zhou, K.A. Wang, G.T. Hager, J.M. Holden, Y. Wang, W.T. Lee, X.-X. Bi, P.C. Eklund, D.C. Cornett, M.A. Duncan, I.J. Amster. Science 259, 955 (1993)
  3. Y.B. Zhao, D.M. Poirier, R.J. Pechman, J.H. Weaver. Appl. Phys. Lett. 64, 577 (1994)
  4. M.S. Dresselhaus, G. Dresselhaus, P.C. Elkund. J. Raman Spectr. 27, 351 (1996)
  5. Y. Wang, J.M. Holden, A.M. Rao, P.C. Eklund, U.D. Ventkateswaran, D. Eastwood, R.L. Lidberg, G. Dresselhaus, M.S. Dresselhaus. Phys. Rev. B 51, 4547 (1995)
  6. M. Nunes-Requeiro, L. Marques, J.-L. Hodeau, O. Bethous, M. Perroux. Phys. Rev. Lett. 74, 278 (1995)
  7. В.А. Давыдов, Л.С. Кашеварова, А.В. Рахманина, В.Н. Агафонов, Р. Сеоля, А. Шварк. Письма в ЖЭТФ 63, 778 (1996)
  8. J. Onoe, K. Takeuchi. Phys. Rev. Lett. 79, 2987 (1997)
  9. T.L. Makarova, N.V. Seleznev, I.B. Zakharova, T.I. Zubkova. Mol. Mat. 10, 105 (1998)
  10. R.M.A. Azzam, N.M. Bashara. Ellipsometry and polarized light. North Holland, Amsterdam (1977). 583 p
  11. T.L. Makarova. Mol. Mat. 7, 199 (1996)
  12. P.C. Eklund, A.M. Rao, P. Zhou, Y. Wang, J.M. Holden. Thin Sol. Films 257, 185 (1995)
  13. P. Zhou, A.M. Rao, K.-A. Wang, J.D. Robertson, C. Eloi, M.S. Meier, S.L. Ren, X.-X. Bi, P.C. Eklund, M.S. Dresselhaus. Appl. Phys. Lett. 60, 2871 (1992)
  14. D.A.G. Bruggemann. Ann. Phys. 24, 636 (1935)
  15. W.K. Chu, J. Majer, M.-A. Nickolet. Backscattering spectrometry. Academic press, N. Y. (1978). 384 p
  16. H. Werner, M. Wohlers, D. Bublak, T. Beltz, W. Bensh, R. Schlogl. In: Electronic properties of fullerenes / Ed. H. Kuzmany et al. Springer Ser. Sol. State Sci. Berlin (1993). V. 117. P. 16

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.