Вышедшие номера
Нелинейно-оптическая и микрорамановская диагностика тонких пленок и наноструктур сегнетоэлектриков ABO3
Мишина Е.Д.1, Шерстюк Н.Э.1, Вальднер В.О.1, Мишина А.В.1, Воротилов К.А.1, Васильев В.А.1, Сигов А.С.1, De Santo M.P., Cazzanelli E., Barberi R., Rasing Th.2
1Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (Технический университет), Москва, Россия
2IMM, Radboud University Nijmegen, The Netherlands
Email: mishina_elena57@mail.ru
Выставление онлайн: 20 мая 2006 г.

Представлены результаты исследования сегнетоэлектрических композитных двумерных наноструктур сегнетоэлектрик/оксид алюминия. Пористая матрица оксида алюминия использовалась в качестве шаблона, в который внедрялся сегнетоэлектрический прекурсор с последующим отжигом. Полученные наноструктуры исследовались методом генерации второй оптической гармоники и микрорамановского рассеяния. Авторы благодарят за финансовую поддержку работы Российский фонд фундаментальных исследований (гранты N 03-02-16945, 04-02-17248), ИНТАС (грант N 01-0075), а также Министерство образования и науки РФ (проект 84-43). PACS: 77.84.Dy, 78.20.-e