Прецизионное измерение скорости ползучести кристаллов LiF c содержанием Mg от 0.002 до 0.03 wt% по интерферометрической записи процесса показало, что на фоне общего затухания ползучести периодически появляются немонотонности в виде чередующихся участков с относительно высокими и низкими скоростями ползучести. Накопление деформации ползучести происходит в большей степени на участках с повышенными скоростями, что обуславливает появление изломов на кривой ползучести, заметных при разрешении перемещений на уровне долей микрона. Проведено измерение высоты ступенек L по кривым "скорость-приращение деформации" при напряжениях, меньших и близких к пределу текучести. Рост напряжений приводит к падению величины L, а увеличение содержания Mg - к ее возрастанию. Предполагается, что немонотонность ползучести связана со структурной неоднородностью материала, которая определяется содержанием примесей и неоднородностью самого процесса деформирования. При малых деформациях в области площадки текучести, где деформация осуществляется в результате расширения уже существующих полос скольжения, атомы примеси усиливают неоднородность деформации (L возрастает). С ростом деформации (напряжений) L уменьшается, что соответствует сглаживанию неоднородностей. Подчеркивается, что ступенчатый характер накопления деформации является ее общей закономерностью.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.