Методами рентгеновской дифракции исследованы пленки YBa₂Cu₃O_7-x (YBCO) на NdGaO₃ (110) и гетероструктуре (100) CeO₂ / (1-102) Al₂O₃. Для получения дифракционных спектров от различных кристаллографических плоскостей применялись симметричная, несимметричная и аксиальная геометрии рентгеновского сканирования theta и theta/2theta. Определены ориентационные и количественные характеристики двойникования пленок. При близости кристаллографических параметров этих двух типов пленок (пленки c-ориентированы с c=11.67 Angstrem) в структуре двойникования они имеют различия. В частности, особенности структуры NdGaO₃ приводят к возникновению угла, отличного от 90^o (90.20^o), между возможными плоскостями двойникования (110) и (1-10) в пленке YBCO и различному количеству двойниковых компонент в каждой системе двойников. Из анализа уширения рефлексов, чувствительных к двойникованию, для пленки YBCO на Al₂O₃ с буферным слоем CeO₂ сделан вывод об отсутствии двойникования для 60% пленки.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.