Вышедшие номера
Особенности фононного рассеяния при дифракции электронов на колеблющейся решетке кристалла
Подсвиров О.А.1
1Санкт-Петербургский государственный технический университет, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 12 мая 1996 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1996 г.

В отличие от широко известного метода жестких потенциалов, рассмотрена дифракция электронов на деформационном (мягком) потенциале, учитывающем свойство упругой деформируемости непрерывного распределения зарядовой плотности в кристалле. Это свойство в случае теплового "уширения" кристаллических плоскостей в металле приводит к разрывам на границах зон Бриллюэна в спектре электрон-фононного рассеяния и к эффекту частичного подавления такого рассеяния в старших зонах (или усиления --- в первой зоне).
  1. S. Takagi. Proc. Soc. Jap. 13, 2, 278, 287 (1958)
  2. J. Bardeen, W. Shockley. Phys. Rev. 80, 1, 72 (1950)
  3. Дж. Займан. Принципы теории твердого тела. М. (1966). 416 с. (J.M. Ziman. Principles of the theory of solids. University Press. Cambridge (1964))
  4. Р. Джеймс. Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей. М. (1950). 572 с. (R.W. James. The optical principles of the diffraction of X-rays. G. Bell and Sons. London (1948))
  5. П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэллан. Электронная микроскопия тонких кристаллов. М. (1968). 575 с. (P.B. Hirsch, A. Howie, R.B. Nicholson, D.M. Pashley, M.J. Whelan. Electron microscopy of the thin crystals. Butterworths. London (1965))
  6. C.J. Humphreys, J.S. Lally. J. Appl. Phys. 41, 1, 232 (1970)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.