Кристаллографические характеристики и фазовые переходы кристалла [(C2H5)4N]2CdBr4 в области низких температур
Шелег А.У.1, Зуб Е.М.1, Ячковский А.Я.1
1Объединенный институт физики твердого тела и полупроводников Национальной академии наук Белоруссии, Минск, Белоруссия
Email: sheleg@ifttp.bas-net.by
Поступила в редакцию: 19 февраля 2007 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2007 г.
Приводятся результаты рентгенографических исследований кристалла [N(C2H5)4]2CdBr4 при низких температурах. Проведены измерения параметров элементарной ячейки и определены коэффициенты теплового расширения вдоль основных кристаллографических направлений в области температур 90-320 K. Исследовано поведение интегральных интенсивностей дифракционных рефлексов в зависимости от температуры. Показано, что на кривых a=f(T), c=f(T), I500=f(T) и I006=f(T) при T1~ 174 K и T2~ 226 K наблюдаются аномалии в виде резких изменений параметров элементарной ячейки и интенсивностей дифракционных рефлексов, что свидетельствует о наличии в кристалле [N(C2H5)4]2CdBr4 при этих температурах фазовых переходов. Обнаружена также аномалия в виде небольшого максимума при T3=293 K. PACS: 64.70.Kb, 61.50.Ks
- A.I. Wolthnis, W.I. Huiskamp, L.I. Delongh. Physica B 142, R 301 (1986)
- О.Г. Влох, И.И. Половинко, В.М. Мокрый, С.А. Свелеба. Кристаллография 36, 227 (1991)
- О.Г. Влох, В.М. Мокрый, И.И. Половинко, С.А. Свелеба. Опт. и спектр. 69, 1189 (1990)
- А.У. Шелег, А.М. Наумовец, Т.И. Декола, Н.П. Теханович. ФТТ 48, 334 (2006)
- А.У. Шелег, Е.М. Зуб, А.Я. Ячковский, Л.Ф. Кирпичникова. Кристаллография 47, 634 (2002)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук