Рассмотрен процесс формирования фотоэлектронных спектров с угловым разрешением при исследовании кристаллических поверхностей со сложным геометрическим рельефом. Предложена простая модель тонкой гофрированной монокристаллической пленки, иллюстрирующая основные закономерности этого процесса. Показано, что в фотоэлектронных спектрах таких поверхностей проявляются особенности, не отражающие истинную электронную структуру системы, а являющиеся результатом ее суперпозиции с геометрической структурой. Для демонстрации результатов использования модели была сформирована физическая система на основе ступенчатых поверхностей Ni (771) и Ni (755) с периодическими ступеньками. Показано, что при формировании монослойного графитового покрытия эти поверхности фасетируются, формируя геометрически неоднородный рельеф поверхности. Фотоэлектронные спектры, полученные от такой поверхности, позволяют дать количественную характеристику как электронной структуры поверхности, так и ее геометрических свойств. Для независимого определения топографии поверхности системы использовалась сканирующая туннельная микроскопия. Работа выполнена в рамках проектов НШ-9826.2006.2 (2006-РИ-112.0/001/136) и РФФИ-ННИО (06-02-04008) и поддержана ФЦНТП Роснауки (РИ-27/016, РИ-16.0/025/021 (02.438.11.7051) и ИН-12.1/008). PACS: 79.60.-i, 79.60.Dp, 64.70.Nd

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.