Издателям
Вышедшие номера
Фотолюминесценция слоев SiO2, приготовленных на пленках beta-SiC, и анализ их элементного состава
Данишевский А.М.1, Лебедев В.М.2, Рогачев А.Ю.1, Шуман В.Б.1, Ситникова А.А.1, Золотарева Р.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова, Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Гатчина, Ленинградская область, Россия
Email: Alex.D@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 28 августа 2006 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2007 г.

Исследуются спектры импульсной, разрешенной во времени фотолюминесценции (ФЛ) окисленных слоев, полученных электрохимическим окислением на пленках SiC/Si. Анализ их элементного состава, проведенный с помощью методов обратного резерфордовского рассеяния и ядерных реакций, показал, что в окисле остается определенная часть атомов углерода. Особенности параметров спектральных полос и их кинетик во времени связываются авторами именно с наличием равномерно распределенного в окисле углерода. С использованием электронной микроскопии изучены структуры окислов при различных длительностях окисления. Сделаны заключения о возможных центрах излучения ФЛ. PACS: 71.23.Cq, 71.55.Jv, 78.55.Qr
  1. L.N. Skuja, A.N. Streletsky, A.B. Pakovich. Sol. Stat. Commun. 50, 1069 (1984)
  2. А.Р. Силинь, А.Н. Трухин. Точечные дефекты и элементарные возбуждения в кристаллическом и стеклообразном SiO-=SUB=-2-=/SUB=-. Рига (1985). 244 с
  3. Ю.Д. Глинка, С.Н. Науменко, В.М. Огенко, А.А. Чуйко. Оптика и спектроскопия 71, 431 (1991)
  4. Yu.D. Glinka, Sheng-Hsien Lin, Yit-Tsong Chen. Appl. Phys. Lett. 75, 778 (1999)
  5. Yu.D. Glinka, Sheng-Hsien Lin, Yit-Tsong Chen. Phys. Rev. B 62, 4733 (2000)
  6. Q. Zhang, S.C. Bailiss, A. Al-Ajili, D.A. Hutt, P. Harris. NIM B 97, 329 (1995)
  7. Г.А. Качурин, И.Е. Тысченко, В. Скорупа и др. ФТП 31, 730 (1997)
  8. L.T. Canham, A. Loni, P.D.J. Calcott, A.J. Simons et al. Thin Solid Films 276, 112 (1996)
  9. R. Guerrero-Lemus, J.D. Moreno, R.J. Martin-Palma, F. Ben-Handler et al. Thin Solid Films 354, 34 (1999)
  10. О.М. Сресели, Д.Н. Горячев, В.Ю. Осипов, Л.В. Беляков и др. ФТП 36, 604 (2002)
  11. А.М. Данишевский, В.Б. Шуман, Е.Г. Гук, А.Ю. Рогачев. ФТП 31, 420 (1997)
  12. А.М. Данишевский, А.Ю. Рогачев, В.Б. Шуман, Е.Г. Гук. ФТП 31, 1387 (1997)
  13. А.Н. Дюмин, В.К. Еремин, С.Г. Конников, В.М. Лебедев, Ю.Г. Лукьянов, Н.Б. Строкан. ЖТФ 63, 166 (1993)
  14. Т.К. Звонарева, Е.И. Иванова, Г.С. Фролова, В.М. Лебедев, В.И. Иванов-Омский. ФТП 36, 734 (2002)
  15. J.E. Ziegler, J.P. Biersack, U. Littmark. The stopping and range of ions in solids. Pergamon Press, N. Y. (1985). 300 p
  16. D.M. Shirokov, V. Bohas. NIM B 84, 497 (1993)
  17. В.С. Кортов, А.Ф. Зацепин, С.В. Горбунов, А.М. Мурзакаев. ФТТ 48, 1205 (2006)
  18. L. Skuja. J. Non-Cryst. Solids 239, 16 (1998)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.