Путем одновременной регистрации оже-электронов, эмиттированных из кристалла вольфрама и атомов кремния, напыленных на его поверхность, осуществлено разделение вкладов в наблюдаемую ориентационную зависимость от дифракции прямого падающего потока первичных электронов и вариаций фона обратнорассеянных электронов. Хорошее количественное согласие полученных данных с результатами многоволновых расчетов в динамической теории дифракции позволяет сделать вывод о возможности прецизионного анализа элементного состава кристаллических твердых тел методом, электронной оже-спектроскопии.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.