Электронно-дырочный механизм уширения спектральной линии. Температурный эффект
Выставление онлайн: 19 июня 1988 г.
Вычислена температурная зависимость ширины спектральной линии для локального колебания при электронно-дырочном механизме уширения. Показано, что основной температурный вклад возникает в четвертом порядке ряда теории возмущений. Этот вклад пропорционален температуре и связан с дефазировкой колебаний за счет упругих столкновений с электронами металла.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.