Фототропный центр и распределение примеси хрома в кристаллах редкоземельного граната
Колесников С.С.1, Щепина Л.И.1
1Научно-исследовательский институт прикладной физики Иркутского государственного университета, Иркутск, Россия
Email: schepina@ari.isu.ru
Выставление онлайн: 20 августа 2008 г.
Методом рентгеноструктурного анализа выполнены исследования двух типов кристаллов Gd3Sc2Al3O12, активированного ионами Ca2+ и Cr3+, и Gd3Sc2Ga3O12, активированного ионами Nd3+ и Cr3+. Для того чтобы определить, как встраивается примесь в решетку, изучалось ее влияние на распределение электронной плотности и на микронапряжения кристаллической решетки. Показано, что ионы хрома могут занимать узлы в решетке, находящиеся преимущественно в октаэдрическом окружении лигандов кислорода. PACS: 61.72.Dd, 61.72.Ff
- Wang Su-Mei, Feng Bao-Hua, Zhang Qiu-Lin, Zhang Dong-Xiang, Zhang Shi-Wen. Chin. Phys. Lett. 22, 877 (2005)
- V.B. Tsvetkov, G.A. Bufetova, D.A. Nikolaev, V.F. Seregin, I.A. Shcherbakov, M.Yu. Gusev, I.A. Ivanov. Laser Phys. 15, 579 (2005)
- Л.И. Крутова, Н.А. Кулагин, В.А. Сандуленко. ФТТ 31, 170 (1989)
- В.И. Гармаш, В.А. Житнюк, А.Г. Охримчук. Изв. АН СССР. Неорган. материалы 26, 1700 (1990)
- Л.Г. Попов. Автореф. канд. дис. ИГУ, Иркутск (1994). 20 с
- J.A. Caird, E.F. Krupke, M.D. Shinn. In: Technical digest of conference on lasers and electro-optics. Optical Soc. of America. Baltimore, Maryland, USA (1985). P. 232
- Н.Н. Ильичев, А.В. Кирьянов, П.П. Пашинин, С.Х. Шпуга. ЖЭТФ 105, 1426 (1994)
- Л.И. Щепина, О.В. Бородина, Л.И. Ружников. Письма в ЖТФ 31, 6, 23 (2005)
- C.A. Geiger, T. Armbruster. Am. Mineral. 82, 740 (1997)
- Я.С. Уманский. Рентгенография металлов и полупроводников. Металлургия, М. (1969). 496 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
