Вышедшие номера
Структурные параметры синтетических опалов: статистический анализ данных электронной микроскопии
Самусев К.Б.1, Юшин Г.Н.2, Рыбин М.В.1, Лимонов М.Ф.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Georgia Institute of Technology, School of Materials Science and Engineering, GA Atlanta, USA
Email: M.Rybin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 22 ноября 2007 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2008 г.

Выполнено детальное исследование статистических характеристик ансамбля частиц a-SiO2 в синтетических опалах. Приводятся результаты обработки изображений, полученных с помощью электронной микроскопии при изучении ростового слоя (111). Для вычисления статистических параметров разработан алгоритм, позволяющий определять диаметры частиц a-SiO2 и координаты их центров. Основу алгоритма составляет процедура распознавания объектов, границы которых обладают радиальной симметрией, с помощью преобразования исходного изображения, аналогичного преобразованию Хо (Hough). В результате проведенной обработки изображений определены структурные параметры ростового слоя (111): средний диаметр частиц ~316 nm, полуширина контура распределения ~7%, среднее расстояние между центрами соседних частиц ~315 nm. Результаты обработки изображений опалов сравниваются с данными оптических экспериментов. Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 08-02-00642). PACS: 42.70.Qs, 42.25.Fx, 42.79.Fm