Вышедшие номера
Фотоэлектрическая релаксационная спектроскопия сегнетоэлектрика-полупроводника TlGaSe2
Одринский А.П.1
1Институт технической акустики НАН Беларуси, Витебск, Беларусь
Email: odra@mail333.com
Поступила в редакцию: 27 февраля 2013 г.
Выставление онлайн: 20 января 2014 г.

В систематических исследованиях кристаллов из различных технологических партий обнаружено пять электрически активных дефектов с энергией термоактивации перезарядки 0.1-0.7 eV. Обсуждаются особености их регистрации, связанные с наличием в материале сегнетоэлектрических свойств. Представлена найденная закономерность изменения с температурой энтальпии перезарядки дефекта, регистрируемого в окрестности фазового перехода. Работа выполнена в рамках гранта Белорусского фонда фундаментальных исследований N Ф11ЛИТ-008.
  1. A.M. Panich. J. Phys.: Condens. Matter, 20, 293 202 (2008)
  2. С.Б. Вахрушев, Б.Е. Квятковский, Н.М. Окуневa, К.Р. Аллахвердиев. Препринт ФТИ им. А.Ф. Иоффе N 886. Л. (1984)
  3. D.F. McMorrow, R.A. Cowley, P.D. Hatton, J. Banys. J. Phys.: Cond. Matter., 2, 3699 (1990)
  4. С.Г. Абдулаева, В.А. Алиев, Н.Т. Мамедов, М.К. Шейкман. ФТП, 17, 1787 (1983)
  5. В.А. Алиев, Г.Д. Гусейнов. ФТП, 19, 1940 (1985)
  6. В.М. Фридкин. Сегнетоэлектрики-полупроводники. Наука, М. (1976). 264 c
  7. D.V. Lang. J. Appl. Phys., 45, 3023 (1974)
  8. Ho-Jun Song, Sang-Hyun Yun, Wha-Tek Kim. Solid State Commun. 94 3, 225 (1995)
  9. Ch. Hurter, M. Boilou, A. Mitonneau, D. Bois. Appl. Phys. Lett. 32, 821 (1978)
  10. V. Grivickas, A. Odrinski, V. Bikbajevas, K. Gulbinas. Phys. Status Solidi B 250, 160 (2013)
  11. A.P. Odrinsky, V. Grivickas, V. Bikbajevas, K. Gulbinas. Сб. материалов IV Междунар. конф. "Материалы и структуры современной электроники" Минск, Беларусь (2012) с. 63
  12. И.А. Давыдов, А.П. Одринский. Электроника 11, 4 (1990)
  13. А.П. Одринский. Сб. материалов V Междунар. конф. Полоцк, Беларусь (2008) c. 80
  14. M.P. Hanias, A.N. Anagnostopoulos, K. Kambas, J. Spyridelis. Mater. Res. Bull. 27, 25 (1992)
  15. A.F. Qasrawi, N.M. Gasanly. Mater. Res. Bull. 39, 1353 (2004)
  16. J.C. Balland, J.P. Zielinger, C. Noguet, M. Tapiero. J. Phys. D 19, 57 (1986)
  17. Р. Бьюб. Фотопроводимость твердых тел. ИЛ М. (1962). 560 с
  18. A.П. Одринский, V. Grivickas, V. Bikbajevas, E.G. Samadli. Сб. статей VIII Белорусско-Российского семинара "Полупроводниковые лазеры и системы на их основе". Минск (2011) c. 221
  19. А. Милнс. Примеси с глубокими уровнями в полупроводниках. Мир, М. (1977). 562 c
  20. M. Ichimura. Solid State Electronics 50, 1761 (2006)
  21. А.А. Истратов, О.Ф. Вывенко. ФТП 29, 654 (1995)
  22. A. Yelon, B. Movaghar, H.M. Branz. Phys. Rev. B 46, 12 244 (1992).
  23. А. Chantre. Appl. Phys. A, 48, 3 (1989)
  24. М.-Г. Сеидов, Р.А. Сулейманов, С.С. Бабаев, Т.Г. Мамедов, Г.М. Шарифов. ФТТ 20, 105 (2008)
  25. P.M. Mooney. In: Identification of Defects in Semiconductors / Ed. by M. Stavola. Ser. Semiconductors and Semimetals. Academic Press, London (1999). V. 51B. P. 102.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.