Вышедшие номера
Температурная импеданс-спектроскопия твердых растворов (1-x)Na1/2Bi1/2TiO3-xLaMg1/2Ti1/2O3
Олехнович Н.М.1, Мороз И.И.1, Пушкарев А.В.1, Радюш Ю.В.1, Салак А.Н.2, Вышатко Н.П.2, Ferreira V.M.3
1Объединенный институт физики твердого тела и полупроводников Национальной академии наук Белоруссии, Минск, Белоруссия
2University of Aveiro, Department of Ceramics and Glass Engineering/CICECO,-193 Aveiro, Portugal
3University of Aveiro, Department of Civil Engineering/CICECO,-193 Aveiro, Portugal
Email: olekhnov@ifttp.bas-net.by
Поступила в редакцию: 4 апреля 2007 г.
Выставление онлайн: 18 февраля 2008 г.

Приводятся результаты исследования диэлектрических свойств твердых растворов (1-x)Na1/2Bi1/2TiO3-xLaMg1/2Ti1/2O3 (0=<q x=<q 0.4) в области 650-1030 K по данным импеданс-спектров, измеренных в диапазоне частот 25-106 Hz. Определена температура Кюри Tc в зависимости от состава твердых растворов. Показано, что Tc линейно убывает с увеличением x. Установлен характер температурной зависимости компонент действительной части электропроводности (постоянного тока (sigmadc) и поляризационной (sigma'ac) ). Показано, что энергия активации электропроводности sigmadc при возрастании температуры выше примерно 770 K скачком увеличивается для всех составов твердого раствора. Поляризационная компонента sigma'ac в области температур, примерно соответствующей области существования тетрагональной фазы Na1/2Bi1/2TiO3, для твердого раствора, как и для чистого соединения, на низких частотах характеризуется аномально высокими значениями, что связывается со структурными неоднородностями. Работа выполнена при поддержке Белорусского Республиканского фонда фундаментальных исследований (грант Ф05МС-13) и Португальского фонда науки и технологии (FCT, SFRH/BPD/14988/2004 и SFRH/BPD/15004/2004). PACS: 77.22.-d, 77.22.Gm, 77.80.Bh, 77.84.Dy
  1. Г.А. Смоленский, В.А. Исупов, А.И. Аграновская, Н.Н. Крайник. ФТТ 2, 2982 (1960)
  2. V.A. Isupov. Ferroelectrics 315, 123 (2005)
  3. В.А. Исупов, П.Л. Стрелец, И.А. Серова, Н.Д. Яценко, Т.М. Широбоких. ФТТ 6, 790 (1964)
  4. S. Kuharuangrong, W. Schulze. J. Am. Ceram. Soc. 79, 1273 (1996)
  5. K.S. Hong, S.E. Park. J. Appl. Phys. 79, 389 (1996)
  6. S. Said, J.-P. Mercurio. J. Eur. Ceram. Soc. 21, 1333 (2001)
  7. J.K. Lee, H.J. Youm, K.S. Hong, S.E. Park. J. Appl. Phys. 85, 368 (1999)
  8. J.K. Lee, J.Y. Yi, K.S. Hong. Jpn. J. Appl. Phys. 40, 6003 (2001)
  9. T. Takenaka, K. Maruyama, J. Sakada. Jpn. J. Appl. Phys. 30, 2236 (1991)
  10. J. Suchanicz, J. Kusz, H. Bohm, H. Duda, J.P. Mercurio, K. Konieczny. J. Eur. Ceram. Soc. 23, 1559 (2003)
  11. J.-R. Gomah-Petty, S. Said, P. Marchet, J.-P. Mercurio. J. Eur. Ceram. Soc. 24, 1165 (2004)
  12. И.П. Раевский, Л.А. Резниченко, О.И. Прокопало, Е.Г. Фесенко. Неорган. материалы 15, 872 (1979)
  13. H. Ishii, H. Nagata, T. Takenaka. Jpn. J. Appl. Phys. 40, 5660 (2001)
  14. G.A. Samara. J. Phys.: Cond. Matter 15, R 367 (2003)
  15. D.-Y. Lee, S.-J. Yoon, J.H. Yeo, S. Nahm, J.H. Paik, K.-C. Whang, B.-G. Ahn. J. Mater. Sci. Lett. 19, 131 (2000)
  16. A.N. Salak, D.D. Khalyavin, P.Q. Mantas, A.M. Senos, V.M. Ferreira. J. Appl. Phys. 98, 034 101 (2005)
  17. A.N. Salak, N.P. Vyshatko, A.L. Kholkin, V.M. Ferreira, N.M. Olekhnovich, Yu.V. Radyush, A.V. Pushkarev. Mater. Sci. Forum 514-- 516, 250 (2006)
  18. A.N. Salak, V.M. Ferreira. J. Phys.: Cond. Matter 18, 5703 (2006)
  19. D.C. Sinclair, A.R. West. J. Appl. Phys. 66, 3850 (1989)
  20. J. East, D.C. Sinclair. J. Mater. Sci. Lett. 16, 422 (1997)
  21. G.O. Jones, P.A. Thomas. Acta Cryst. B 58, 168 (2002)
  22. И.П. Пронин, П.П. Сырников, В.А. Исупов, Г.А. Смоленский. Письма в ЖТФ 5, 705 (1979)
  23. C.-S. Tu, I.G. Siny, V.H. Schmidt. Phys. Rev. B 49, 11 550 (1994)
  24. A. Pan, A. Ghosh. Phys. Rev. B 59, 899 (1999)
  25. B.V. Bahuguna Saradhi, K. Srinivas, G. Prasad, S.V. Suryanarayana, T. Bhimasankaram. Mater. Sci. Eng. B 98, 10 (2003)
  26. J. Suchanicz. Mater. Sci. Eng. B 55, 114 (1998)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.