Для изучения неоднородности скорости и параметров скачков деформации на уровне наноструктуры применен новый метод обработки интерферометрической записи деформации, позволяющий регистрировать скачки деформации менее 300 nm. Показано, что нижний уровень скачков для алюминия составляет 10-30 nm, а для аморфного полимера (полиметилметакрилата) - 130 nm. Предполагается, что размеры скачков соответствуют масштабам упорядоченных образований, как это было установлено ранее для более высоких уровней структуры. Результаты позволят не только более полно изучить многоуровневый характер деформации, но и оценить размеры наноструктурных единиц, их эволюцию в процессе деформации и под влиянием внешних полей, а также их связь с микро- и макромасштабными неоднородностями деформации. Работа выполнена при поддержке РФФИ (проект N 06-08-01204). PACS: 62.20.F-, 61.72.Hh

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.