При использовании точного теоретического описания динамической дифракции Лауэ рентгеновских лучей в кристалле с постоянным градиентом деформации решена обратная задача определения локальных значений упругого изгиба и скручивания анизотропных кристаллических пластин по данным измерений интегрального коэффициента отражения R_h(alpha) как функции угла наклона alpha плоскости дифракционного рассеяния. В качестве примера приводятся результаты исследования локальных деформаций в кварцевых пластинах с нанесенным на обе поверхности слоем Ag толщиной 10 мкм. Показано, что чувствительность метода по измеряемым радиусам изгиба составляет r ~10³ м. Указывается, что учет анизотропии упругих постоянных существенно влияет на величину, а в некоторых случаях и на знак определяемых значений локальной деформации.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.