Эффекты деформации фундаментального края дефектами в двухфотонной спектроскопии полупроводников
Балтрамеюнас Р., Гаврюшин В., Рачюкайтис Г., Казлаускас А., Рыжиков В.Д., Марков Е.В., Теплицкий В.А., Каменский М.А., Смирнов В.В.
Выставление онлайн: 17 февраля 1991 г.