На основе статистической динамической теории дифракции исследуется рассеяние рентгеновских лучей на неидеальной трехслойной гетероструктуре. Средний слой гетероструктуры помимо статистически распределенных микродефектов имеет постоянный градиент деформации кристаллической решетки. Модель дефектов верхнего слоя задана в виде хаотически распределенных сферических аморфных кластеров. Численные расчеты кривых дифракционного отражения (КДО) от гетероструктуры Al_0.22Ga_0.78As/Al_xGa_1-xAs/GaAs(00l) проведены для ряда значений статического фактора Дебая-Валлера каждого отдельного слоя. Концентрация х среднего слоя гетероструктуры непрерывно изменяется по толщине образца. Показано влияние диффузного рассеяния на формирование КДО каждого отдельного слоя и всей гетероструктуры.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.