На основании исследования зависимостей электрических параметров поликристаллических пленок SmS (удельного электросопротивления, коэффициента Холла, подвижности носителей заряда) от параметров структуры пленок (их толщины, размера кристаллитов, параметра кристаллической решетки) сделаны выводы об особенностях процесса роста пленок, взаимозависимости перечисленных параметров и о причине наличия связи структурных и электрических параметров. Она заключается в том,что доля перескоковой проводимости в электропереносе пропорциональна концентрации ионов Sm⁺³, которая зависит от структурных особенностей пленки.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.