Проведены исследования структуры пленок YBa₂Cu₃O_7-x, выращенных лазерным и магнетронным методами на монокристаллических подложках SrTiO₃ и MgO с ориентацией поверхности (001), и границы раздела пленка-подложка. Показано, что при достаточно высоких давлениях кислорода безотжиговая методика позволяет получать эпитаксиальные монокристаллические пленки с ориентацией оси с перпендикулярно плоскости подложки. Величина кристаллографической разориентации вдоль оси c в пленках, выращенных на титанате стронция и окиси магния, не превышает 13 и 19 угловых минут соответственно.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.