Сопоставляются две континуальные модели стержнеобразного дефекта (СД), возникающего в процессе преципитации кислорода при низкотемпературном отжиге (T=750^oС) выращенных по Чохральскому кристаллов кремния. С этой целью сравниваются расчетные и экспериментальные электронно-микроскопические изображения СД. В обеих моделях реализовано предположение о том, что дефект является включением в алмазной решетке коэсита - фазы высокого давления SiO₂. Основной вывод работы - в состав СД должна входить не только кристаллическая, но и аморфная фаза SiO₂ - получен при согласовании размеров дефекта (из эксперимента) с теоретической оценкой, которую дает условие стабильности фазы коэсита при фиксированном несоответствии решеток матрицы и включения. Для одной из моделей удается достигнуть удовлетворительного совпадения с экспериментом.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.