Исследована роль неоднородной намагниченности при магнитных измерениях критических токов в сверхпроводящих пленках и пластинах цилиндрической формы. Предложена методика определения плотности критического тока по измерениям магнитного поля, создаваемого экранирующими сверхтоками при переходе всего объема сверхпроводника в критическое состояние. В приближении Бина-Лондона получено выражение для плотности критического тока, в которое входят параметры кривой намагничивания. Показано, что учет неоднородной намагниченности, обусловленной пиннингом, особенно важен в том случае, когда измеряются критические токи в тонких пленках. На керамических образцах Y-Ва-Сu-О проведена экспериментальная проверка предлагаемой методики. Впервые получены полевые зависимости плотности критического тока для сверхпроводящей керамики Тl-Ва-Са-Сu-О.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.