Восстановление структурного совершенства CdTe и ZnTe, бомбардированных ионами низких энергий, в результате подпорогового электронного облучения
Поступила в редакцию: 26 октября 1994 г.
Выставление онлайн: 20 мая 1995 г.
Методами просвечивающей и высокоразрешающей электронной микроскопии (ПЭМ и ВРЭМ) исследуются процессы устранения дислокационных петель, предварительно введенных бомбардировкой ионами Ar+ с энергиями 3-5 keV в CdTe и ZnTe, при последующем облучении электронами с подпороговыми энергиями. Обнаружено, что облучение электронами сопровождается сокращением дислокационных петель в ионно-бомбардированных образцах, в то время как обычный термоотжиг приводит к их росту (коагуляции). Процесс ускоряется с повышением температуры облучения in situ в ПЭМ выше 200o C, хотя этот феномен наблюдается и при низкой температуре (173 K). Установлено, что плоскостями залегания петель могут быть 110 и 111 с возможными векторами Бюргерса a/2<110> и a/6<112> в CdTe и a/2<110> и a/3<111> в ZnTe. Процессы, инициированные электронным облучением, протекают быстрее в CdTe, чем в ZnTe, что объясняется различием в энергиях дефекта упаковки. Результаты интерпретируются на основе ионизационного подпорогового механизма дефектообразования.
- Wald F.V. Rev. Phys. Appl. 12, 2, 277 (1977)
- Morris G.G., Das S.K., Tanner P.G. J. Cryst. Growth. \bf117, 929 (1992)
- Seto S., Tanaka A., Masa Y., Kawashima M. J. Cryst. Growth. \bf117, 271 (1992)
- Иванов Ю.М., Павлова Г.С., Канунова Е.Л. Изв. АН СССР. Неорган. материалы \bf24, \it12, 1956 (1988)
- Kowalczyk L. J. Cryst. Growth. \bf72, \it1--2, 389 (1985)
- Brown P.D., Loginov Y.Y., Mullins J.T., Durose K., Brinkman A.W., Humphreys C.J. J. Cryst. Growth. \bf138, 538--544 (1994)
- Chew N.G., Cullis A.G. Ultramicroscopy 23, 175 (1987)
- Lu G. Phil. Mag. Lett. 68, 1, 1 (1993)
- Yoshiie T., Iwanaga H., Shibata N., Suzuki K., Ichihara M., Takeuchi S. Phil. Mag. A. \bf47, \it3, 315 (1983)
- Loginov Y.Y., Brown P.D., Thompson N. Phys. Stat. Sol. (a) \bf126, 63 (1991)
- Loginov Yu.Yu., Brown P.D. Phys. Stat. Sol. (a) \bf132, 323 (1992)
- Hastings M.P., Maxey C.D., Matthews B.E., Metcalfe N.E., Capper P., Jones C.L., Gable I.G. J. Cryst. Growth. \bf138, 917 (1994)
- Rolland S., Granger R., Triboulet J. Cryst. Growth. \bf117, 208 (1992)
- Barlot J.F. Appl. Phys. Lett. 57, 2689 (1990)
- Russel G.J., Woods J. J. Cryst. Growth. \bf47, 647 (1979)
- Lu G., Niu F., Wang R. Rad. Eff. and Defects in Solids \bf116, 81 (1991)
- Ryssel H., Lang G., Biersack J.P., Muller K., Kruger W. IEEE Trans. Electr. Devices. \bf27, \it1, 58 (1980)
- Бабенцов В.Н., Бекетов Г.В., Горбань С.И. ФТП \bf27, \it3, 504 (1993)
- Shastov K.V. Phys. Stat. Sol. (a) 130, 293 (1992)
- Leo G., Drigo A.V., Traverse A. Mater. Sci. Eng. \bf B16, 123 (1993)
- Loginov Y.Y., Lenchenko V.M., Brown P.D., Woods J. Phys. Stat. Sol. (a) \bf118, 117 (1990)
- Sanders I.R., Dobson P.S. J. Mater. Sci. \bf9, \it12, 1987 (1974)
- Lunn M.A., Dobson P.S. J. Cryst. Growth. \bf73, 379 (1985)
- Zanio K. Semiconductors and Semimetals. N.Y. (1978), V. 13
- Kroger F.A. Rev. Phys. Appl. 12, 2, 205 (1977)
- Spence J.C.H. Experimental high-resolution electron microscopy. Oxford (1981)
- Qin L.C., Li D.X., Kuo K.H. Phil. Mag. A. \bf53, \it4, 543 (1986)
- Lu G. Rad. Eff. and Defects in Solids \bf124, 301 (1992)
- Loginov Y.Y., Brown P.D., Thompson N., Durose K. J. Cryst. Growth. \bf117, 682 (1992)
- Корбетт Дж., Бургуэн Ж. Точечные дефекты в твердых телах. М. (1979), С. 9--152
- Bryant F.J., Baker A.T. J. Radiat. Damage and Defects in Semiconductors. Bristol, London: Inst Phys. Conf (1973), Ser. 16, P. 42
- Карпов В.Г., Клингер М.И. ФТП, \bf21, \it10, 1887 (1987)
- Loginov Y.Y., Brown P.D., Thompson N.A. Phys. Stat. Sol. (a) \bf127, 75 (1991)
- Takeuchi S., Suzuki K., Maeda K., Iwanaga H. Phil. Mag. A. \bf50, \it2, 171 (1984)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.