Вышедшие номера
Структура и свойства тонких пленок PbZrTiO 3, полученных золь-гель методом
Ярмаркин В.К.1, Зайцева Н.В.1, Штельмах С.В.1, Моторный А.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 25 мая 1994 г.
Выставление онлайн: 20 января 1995 г.

На подложках < 111>Si с подслоем платины получены тонкие пленки PbZrTiO3 с помощью золь-гель метода. Показано, что при изменении условий температурной обработки пленок на этапе сушки геля можно получить как неориентированные, так и ориентированные (с осевой текстурой типа (100) ) пленки. Образование текстуры связывается с искусственной эпитаксией под действием механических напряжений. Проведены измерения петель диэлектрического гистерезиса, частотных зависимостей емкости, вольт-фарадных и вольт-амперных характеристик пленок при использовании различных металлов в качестве материала верхнего электрода. Обсуждаются причины систематического смещения петель диэлектрического гистерезиса и механизм токопрохождения через структуры металл-сегнетоэлектрическая тонкая пленка-металл.