Проведены исследования низкотемпературного отжига дефектов в пластически деформированных образцах сульфида кадмия методами низкотемпературной катодолюминесценции и DLTS. Установлено, что в приповерхностной области образца в результате низкотемпературного отжига происходит значительное уменьшение концентрации винтовых дислокаций, в то время как число выходов краевых дислокаций на поверхность существенно не изменяется. Изменение дислокационной структуры сопровождается изменением вида DLTS-спектра, выражающегося главным образом в уменьшении величины DLTS-максимума M5 и в количественно соответствующем уменьшении общего числа доноров в образце. Сделан вывод о связи центра M5 с винтовыми дислокациями.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.