Инфракрасная спектроскопия сильнолегированного компенсированного материала Cd xHg 1- xTe с узкой запрещенной зоной
Белогорохов А.И.1, Белогорохова Л.И.1
1НИИ ''Гиредмет'' Москва
Поступила в редакцию: 20 апреля 1993 г.
Выставление онлайн: 20 июля 1994 г.
Температурные зависимости оптического пропускания и фоточувствительности в инфракрасной области спектра легированных компенсированных полупроводников с узкой запрещенной зоной на примере CdxHg1-xTe в одних и тех же экспериментальных условиях исследованы в диапазоне температур 5-400 K. Обнаруженные резкие аномальные изменения положения края основного поглощения, максимума и относительной интенсивности фоточувствительности материала в области температур 50-65 K объясняются с позиций проявления коллективных эффектов в неупорядоченных полупроводниках. Методами растровой электронной микроскопии в режиме вольтового контраста получены оценки пространственных размеров образующихся при температуре жидкого азота областей кристалла p-типа проводимости.
- Бонч-Бруевич В.Л., Звягин И.П., Кайпер Р., Миронов А.Г., Эндерлайн Р., Эссер Б. Электронная теория неупорядоченных полупроводников. М.: Наука, 1981. 384 с
- Шкловский Б.И., Эфрос А.Л. Электронные свойства легированных полупроводников. М.: Наука, 1979. 289 с
- Иванчик И.И., Никорич А.В., Хохлов Д.Р., Чесноков С.Н. Письма в ЖЭТФ. 1992. Т. 96. N 2. С. 125--128
- Mroczkowski J.A., Nelson D.A. J. Appl. Phys. 1983. V. 54. N 4. P. 2041--2051
- Белогорохов А.И. Сб. "Спектральные методы решения проблем физики твердого тела". М.: Изд-во ИСАН, 1988. С. 46--80
- Hensen G., Casselman T., Schmit J. J. Appl. Phys. 1982. V. 53. N 5. P. 7099-7183
- Vydyanath H.R. J. Electrochem.Soc. 1981. V. 128. P. 2609--2615
- Белогорохов А.И., Кулаков М.П., Кремерман В.А., Натадзе А.Л., Розенфельд Ю.Б., Рыскин А.И. ЖЭТФ. 1988. Т. 94. N 6. С. 174--184
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук