Неоднородное уширение резонансных линий в органических средах: люминесценция Sm 2+ в тонких эпитаксиальных слоях CaF 2
Аверкиев Н.С.1, Вихнин В.С.1, Соколов Н.С.1, Яковлев Н.Л.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 18 ноября 1993 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1994 г.
Экспериментально и теоретически рассмотрено неоднородное уширение резонансных линий упругими полями центров дилатации в полуограниченных средах при распределении упругих дефектов и зондов в узком приповерхностном слое (в тонкой пленке). В этом случае теоретически получена новая форма резонансной линии. Последняя может обладать существенной асимметрией, а для актуального случая тонких пленок и небольшой концентрации упругих дефектов Фурье-образ симметричной части формы линии не зависит от толщины пленки и затухает по закону exp(-|t|2/3). Развитая теория позволила интерпретировать эксперимент по люминесценции Sm2+ в тонких эпитаксиальных слоях CaF2/Si (111).
- Anderson P.W., Weiss P.R. Rev. Mod. Phys. 1953. V. 25. 269 p
- Stoneham A.M. Proc. Phys. Soc. 1966. V. 89. 909 p
- Ройцин А.Б., Маевский В.М. УФН. 1989. Т. 159. N 2. С. 297--334
- Гастев С.В., Новиков С.В., Соколов Н.С., Яковлев Н.Л. Письма в ЖТФ. 1987. Т. 13. N 16. С. 961--966
- Sokolov N.S., Yakovlev N.L., Almeida J. Solid State Commun. 1990. V. 76. N 7. P. 883--885
- Sokolov N.S., Alvarez J.C., Yakovlev N.L. Appl. Surf. Sci. 1992. V. 60/61. P. 421-425
- Каплянский А.А., Пржевуский А.К. Опт. и спектр. 1966. Т. 20. N 6. С. 1045--1057
- Игнатьев И.В., Овсянкин В.В. Опт. и спектр. 1980. Т. 49. N 3. С. 538--546
- Hurle D.T.G. J. Phys. Chem. Sol. 1979. V. 40. P. 613--646
- Averkiev N.S., Vikhnin V.S., Sokolov N.S., Yakovlev N.L. Proc. XII Int. Conf. on Defects in Insulating Marerials (ICDIM-92). Nordkirchen, 1992. V. 2. P. 1271--1273
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.