Вышедшие номера
Распределение примесей по подрешеткам в полупроводниковых соединениях
Векилов Ю.Х.1, Горбатов О.И.1, Лашкевич М.Ю.1, Рубан А.В.1
1Московский институт стали и сплавов
Поступила в редакцию: 29 июня 1993 г.
Выставление онлайн: 20 января 1994 г.

Разработанная методика расчета энергии образования точечных дефектов в полупроводниковых соединениях методом ЛМТО-функций Грина с учетом маделунговских поправок. Исследовано распределение примесей кремния по подрешеткам в соединениях A3B5. Результаты расчета сопоставлены с экспериментом.