Вышедшие номера
Динамика формирования мозаичной структуры пористого кремния при длительном анодном травлении в электролитах с внутренним источником тока
Тыныштыкбаев К.Б.1, Рябикин Ю.А.1, Мить К.А.1, Ракыметов Б.А.1, Айтмукан Т.1
1Физико-технический институт МОН РК, Алма-Ата, Казахстан
Email: kt011@sci.kz
Поступила в редакцию: 9 августа 2010 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2011 г.

При длительном анодном травлении p-Si (100) в электролитах с внутренним источником тока наблюдается спонтанное самоформирование мозаичной структуры пористой поверхности в виде островков окисленных нанокристаллитов por-Si, разделенных кремниевыми выступами. Процесс спонтанного формирования мозаичной структуры por-Si происходит в результате релаксации упругонапряженного слоя пористой поверхности. Самоорганизация мозаичной структуры поверхности por-Si, размеры островков и период их расположения определяются совокупностью ряда факторов, возникающих в сложной гетерофазной системе электролит/por-Si/c-Si/ в процессе травления: пространственно-временным распределением точечных дефектов междоузлий ISi и вакансий VSi в приповерхностной области c-Si, возникновением капиллярно-флуктуационных сил на границе раздела электролит/por-Si/c-Si/, наличием сил упругой деформации из-за рассогласованности параметров решеток окисленных нанокристаллитов por-Si и c-Si матрицы. Условия проявления этих сил зависят от самосогласованных параметров режимов травления сложной гетерофазной электрохимической системы электролит/por-Si/c-Si/ с внутренним источником тока, включая характеристики электродов и параметры ячейки. Работа выполнена при финансовой поддержке МОН РК (грант N 3.8.2/257) программы фундаментальных исследований.
  1. Н.Н. Леденцов, В.М. Устинов, С.В. Иванов, Б.Я. Мельцер, М.В. Максимов, П.С. Копьев, Д. Бимберг, Ж.И. Алфёров. УФН 166, 423 (1996)
  2. Н.Н. Леденцов, В.М. Устинов, В.А. Щукин, П.С. Копьев, Ж.И. Алфёров, Д. Бимберг. ФТП 32, 385 (1998)
  3. В.И. Емельянов. Квантовая электрон. 36, 489 (2006)
  4. А.Ф. Андреев, А.Я. Паршин. ЖЭТФ 75, 1511 (1978)
  5. В.И. Марченко, А.Я. Паршин. ЖЭТФ 79, 257 (1980)
  6. В.И. Марченко. Письма в ЖЭТФ 33, 397 (1981)
  7. А.Ф. Андреев, Ю.А. Косевич. ЖЭТФ 81, 1435 (1981)
  8. Н.Н. Герасименко, К.К. Джаманбалин, Н.А. Медетов. Самоорганизационные наноразмерные структуры на поверхности и в объеме полупроводников. Алем, Алматы (2002). 192 с
  9. В.И. Емельянов, В.В. Игумнов, В.В. Старков. Письма в ЖТФ 30, 10, 83 (2004)
  10. А.В. Климов, А.И. Григорьев. ЖТФ 79, 10, 14 (2009).
  11. R.L. Smith, S.D. Collins. J. Appl. Phys. 71, R1 (1992)
  12. А.И. Белогорохов,В.А. Караванский, Л.И. Белогорохова. ФТП 30, 1177 (1996)
  13. A. Balance. Phys. Rev. B 52, 8323 (1995)
  14. Д.Н. Горячев, Л.В. Беляков, О.М. Сресели. ФТП 37, 494 (2003)
  15. К.Б. Тыныштыкбаев, Ю.А. Рябикин, С.Ж. Токмолдин, Т. Айтмукан, Б.А. Ракыметов, Р.Б. Верменичев. Письма в ЖТФ 36, 11, 104 (2010)
  16. А.И. Белогорохов, Л.И. Белогорохова, В.А. Караванский, А.Н. Образцов. ФТП 28, 1424 (1994)
  17. В.И. Емельянов, К.И. Еремин, В.В. Старков. Квантовая электрон. 32, 473 (2002)
  18. К.Н. Ельцов, В.А. Караванский, В.В. Мартынов. Письма в ЖЭТФ 63, 106 (1996)
  19. Д.Н. Горячев, Л.В. Беляков, О.М. Сресели. ФТП 38, 739 (2004)
  20. В.А. Караванский, М.А. Качалов, А.П. Маслов, Ю.Н. Петров, В.Н. Селезнев, А.О. Шувалов. Письма в ЖЭТФ 57, 229 (1993)
  21. Г. Полисский, О.М. Сресели, А.В. Андрианов, Ф. Кох. ФТП 31, 365 (1997).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.