Методами электронной микроскопии проведены исследования дислокационной структуры деформированных прокаткой и отожженных монокристаллов молибдена (001) [110]. При высокотемпературных отжигах любой продолжительности монокристаллы молибдена не рекристаллизуются и сохраняют ориентацию исходного монокристалла. В результате полигонизации образуются области, свободные от дислокаций и субграницы. Проведен анализ особенностей электронно-микроскопического изображения дислокаций в субграницах, а также локальных особенностей строения субграниц, образовавшихся после кратковременного отжига при 2000^o С. Сделан вывод, что высокотемпературный отжиг в течение 5 мин уже приводит к образованию субграниц, полностью идентичных наблюдавшимся ранее в деформированных монокристаллических лентах молибдена, отожженных в течение нескольких часов. Основу субграницы составляют длинные прямые краевые дислокации с вектором Бюргерса b=[001], лежащие практически параллельно поверхности кристалла.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.