Резонансная фотоэмиссия в кристалле KCl : теория и эксперимент
Ведринский Р.В.1, Новакович А.А.1, Бермус А.Г.1, Эланго М.1, Аусмеес А.1, Кикас А.1, Номмисте Е.1, Саар А.1
1Ростовский-на-Дону государственный университет НИИФ
Поступила в редакцию: 22 января 1993 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1993 г.
Предложен новый метод расчета фотоэмиссионных спектров, впервые позволивший учесть влияние резонансных возбуждений кристалла в промежуточном состоянии на сечение процесса. Метод применен для расчета фотоэмиссионных спектров KM1 и KM2,3 в кристалле KCl, получаемых при энергиях фотонов, близких к KL2,3-порогу. Расчеты показывают, что в фотоэмиссионных спектрах присутствует тонкая структура, напоминающая структуру KL2,3-спектра поглощения, но несколько модифицированная и значительно менее контрастная. Все особенности расчетных спектров находят полное подтверждение в экспериментальных данных, полученных с использованием синхротронного излучения.
- Амусья М.Я. Атомный фотоэффект. М.: Наука, 1987. 272 с
- Гольдбергер М., Ватсон К. Теория атомных столкновений. М.: Мир, 1967. 823 с
- Ведринский Р.В., Новакович А.А. Физика металлов % и металловедение. 1975. Т. 39. N 1. С. 7--15
- Ведринский Р.В., Гегузин И.И. Рентгеновские спектры поглощения твердых тел. М.: Энергоатомиздат, 1991. 183 с
- Datsyuk V.N., Vedrinskii R.V., Gegusin I.I. Phys. Stat. Sol. (b). 1986. V. 134. N 1. P. 175--184
- Vedrinskii R.V., Bugaev L.A., Gegusin I.I., Kraizman V.L., Novakovich A.A.,% \commes Prosandeev S.A., Ruus R.E., Maiste A.A., Elango M.A. Solid State Comm. 1982. V. 44. N 10. P. 1401--1407
- Bugaev L.A., Gegusin I.I., Datsyuk V.N., Novakovich A.A., Vedrinskii R.V. Phys. Stat. Sol. (b). 1986. V. 133. N 1. P. 192--202
- Майсте А.А., Руус Е.А., Эланго М.А. ЖЭТФ. 1980. Т. 79. N 5. С. 1671--1687
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук