Вышедшие номера
Сканирующая туннельная микроскопия волн зарядовой плотности в 4Hb- TaS2
Кучеренко И.В.1, Фриндт,-=SUP=-1-=/SUP=- Р.Ф.1, Ирвин-=SUP=-1-=/SUP=- Ч.Дж.1
1Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 14 декабря 1992 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1993 г.

Проведены исследования волн зарядовой плотности (ВЗП) в кристаллах 4Hb- TaS2 методом СТМ в интервале температур 295--316 K. Обнаружено, что при сканировании октаэдрических сэндвичей вблизи температуры фазового перехода (T=315 K) происходит резкое изменение структуры ВЗП, появляется новая фаза с периодом lambda=4.3/ 4.5 Angstrem.
  1. Qin X.R., Yang D., Frindt R.F., Irwin J.C. Phys. Rev. B. 1991. V. 44. N 7, P. 3490--3493
  2. Tanaka M., Mizutani W., Nakashizu T., Yamazaki S. at al. JAP. J. Appl. Phys. 1989. V. 28. N 3. P. 473--476
  3. Coleman R.V., Giambattista B., Hansma P.K., Johnson A., McNairy W.W., Siough C.G. Adv. Phys. 1988. V. 37. N 6. P. 559--644
  4. DiSalvo F.J., Bagly B.C., Voorhaeve J.M., Waszczak J.V. J. Phys. Chem. Solids. 1973. V. 34. N 8. P. 1357--1362
  5. Wattamaniuk W.J., Tidman J.P., Frindt R.F. Phys. Rev. Lett. 1975. V .35. N 1. P. 62--65
  6. Wilson J.A., DiSalvo F.J., Mahajan S. Adv. Phys. 1975. V. 24. N 2. P. 117--201
  7. Wu Xian-Liang, Zhon Peng, Lieber Charles M. Phys. Rev. Lett. 1988. V. 61. N 22. P. 2604
  8. DiSalvo F.J., Wilson J.A., Bagly B.G., Waszczak J.V. Phys. Rev. B. 1975. V. 12. N 6. P. 2220--2235

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.