Вышедшие номера
Низкотемпературная гелиевая дефектоскопия и взаимодействие гелия с ионами цериево-гадолиниевой керамики Ce0.8Gd0.2O1.9 с субмикрокристаллической структурой
Купряжкин А.Я.1, Коваленко М.А.1, Коромыслов А.В.1, Жиганов А.Н.1
1Уральский федеральной университет, Екатеринбург, Россия
Email: kupr@dpt.ustu.ru
Поступила в редакцию: 17 ноября 2010 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2011 г.

Методом гелиевой дефектоскопии в диапазоне температур 613-773 K и давлений насыщения 0.05-12 MPa определена концентрация нейтральных, несвязанных анионных вакансий цериево-гадолиниевой керамики Ce0.8Gd0.2O1.9 с субмикрокристаллической структурой. Полученная энергия диссоциации примесно-вакансионных комплексов составила 1.1± 0.2 eV, а энергия растворения гелия в дефектах -0.8±0.2 eV. Проведено сравнение полученных результатов с экспериментальными значениями энергии взаимодействия гелия с ионами, результатами квантово-химических расчетов. Показано, что аномально низкое значение энергии растворения гелия в исследованной керамике обусловлено химическим взаимодействием гелия с ближайшим окружением катионов церия.