Термоиндуцированная дефектная фотолюминесценция гидрогенизированного аморфного кремния
Гусев О.Б.1, Теруков Е.И.1, Ундалов Ю.К.1, Цэндин К.Д.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: oleg.gusev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 11 мая 2010 г.
Выставление онлайн: 20 января 2011 г.
Проведено исследование собственной дефектной фотолюминесценции (ФЛ) пленок аморфного гидрогенизированного кремния (a-Si : H) при больших интенсивностях оптической накачки, приводящих к нагреву пленки. Обнаружено, что при коротких временах нагрева интенсивность дефектной ФЛ увеличивается с температурой экспоненциально с энергией активации, равной 0.85 eV, что существенно меньше энергии активации ~0.2 eV, полученной из экспериментов по классическому отжигу. Этот и другие экспериментальные результаты по температурной зависимости интенсивности и кинетике дефектной ФЛ объясняются в рамках модели "водородного стекла" термостимулированным рождением собственных дефектов аморфного кремния. Результаты расчетов хорошо согласуются с экспериментальными результатами по дефектной ФЛ, отражающей образование и аннигиляцию дефектов при коротких временах нагрева в присутствии оптического возбуждения. Работа поддержана программой ОФН РАН "Новые материалы и структуры" и программой Президиума РАН "Наноматериалы".
- М.С. Бреслер, О.Б. Гусев, Е.И. Теруков, Ю.К. Ундалов. ФТТ 50, 1664, (2008)
- R.A. Street, D.K. Biegelsen, R.I. Weisfield. Phys. Rev. B 30, 5861 (1984)
- M. Stutzmann, W.B. Jackson, C.C. Tsai. Phys. Rev. B 32, 23 (1985)
- J. Kakalios, W. Jackson. Advances in disordered semiconductors. In: Amorphous silicon and related materials / Ed. H. Fritzsche. V. A, B. Vol. 1. World Scientific, London (1989)
- R.A. Street, K. Wiener. Phys. Rev. B 40, 6236 (1989)
- D.E. Carlson, C.W. Magee. Appl. Phys. Lett. 33, 81 (1978)
- M.A. Paesler, D.A. Anderson, E.C. Freeman, G. Moddel, W. Paul. Phys. Rev. Lett. 41, 1492 (1978)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.