Методами рентгеновской дифрактометрии и просвечивающей электронной микроскопии изучены фазовый состав и морфология двойниковой структуры кристаллов диоксида циркония, стабилизированных Y₂О₃ (от 2.8 до 4 mol.%), после термообработки при температуре 1600^oC. Показано, что с увеличением концентрации стабилизирующей примеси Y₂O₃ изменяется характер двойниковой структуры и увеличивается количество нетрансформируемой фазы t'. Методом микроиндентирования изучена зависимость твердости и трещиностойкости кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония от концентрации Y₂О₃, и ориентации индентора. Наиболее устойчивым к образованию трещин оказался образец с наименьшей концентрацией стабилизирующей примеси Y₂O₃, что можно объяснить содержанием в нем большого количества тетрагональной фазы t, обеспечивающей трансформационный механизм упрочнения материала, и более многоуровневым характером двойникования. Работа выполнена на оборудовании ЦКП "Материаловедение и металлургия" при финансовой поддержке Министерства науки и образования, а также при поддержке конкурса научных проектов, выполняемых ведущими молодежными коллективами (грант РФФИ N 12-02-31751).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.