Проведено комплексное исследование сверхрешеток CdF₂-CaF₂ : Eu с различной толщиной бислоя (2-17.5 nm), полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на Si(111). Анализ данных рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии позволил оценить структурное совершенство слоев и интерфейсов сверхрешеток. Установлена возможность получения псевдоморфных короткопериодных сверхрешеток с периодом около 2 nm. При этом показано, что такие сверхрешетки характеризуются большей среднеквадратичной амплитудой шероховатости интерфейсов сравнительно со сверхрешетками с большим периодом. Рассмотрены особенности спектров катодолюминесценции в зависимости от периода сверхрешеток. Показано, что с уменьшением периода интенсивность собственной люминесценции фторидов увеличивается по отношению к интенсивности люминесценции, связанной с излучением примесных ионов Eu²⁺. При этом появляется несколько полос излучения Eu³⁺. Продемонстрированы возможности рентгеноспектрального микроанализа для определения соотношения толщин отдельных слоев в короткопериодных сверхрешетках. Работа выполнена с использованием оборудования регионального ЦКП "Материаловедение и диагностика в передовых технологиях" при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ, государственный контракт N 16.552.11.7002, соглашение N 8368 от 24 августа 2012.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.