ПЖТФ, 2009, том 35, выпуск 11

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Магнитные свойства пленок кобальта на начальной стадии ионно-лучевого осаждения

А.И.Стогний, В.Ф.Мещеряков, Н.Н.Новицкий,
F.Fettar, М.В.Пашкевич

Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению,
Минск, Беларусь E-mail: stognij@ifttp.bas-net.by
Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (технический университет), Москва, Россия
Институт кристаллографии РАН, Москва, Россия
Institut NEEL, CNRS \& Universite Joseph Fourier BP166 F-38042 Grenoble Cedex 9, France
Departament de Fisica,Universitat Autonoma de Barcelona,
08193 Bellatera, Spain

Поступило в Редакцию 23 декабря 2008 г.

Магнитные свойства пленок Co на Si (100) от момента зарождения и до перехода к объемоподобному состоянию были исследованы методами ФМР на частоте 9.55 GHz и SQUID-магнетометрии. Ширина линии ФМР в зависимости от толщины пленки Сo характеризуется резким переходом от больших значений в интервале 0.24<Delta H<0.33 kOe на начальной стадии осаждения к мало изменяющимся значениям Delta H=< 0.16 kOe при толщине пленки Co более 1 nm. Аналогично, пленки Со толщиной до 1 nm обладают значительной коэрцитивной силой HC>0.54 kOe при температуре 10 K, а слои большей толщины имеют HC менее 0.15 kOe во всем интервале температур вплоть до 300 K. Большие значения Delta H и HC на начальной стадии зарождения пленок объясняются вкладом от переходного слоя Co/Si, формирующегося при воздействии \glqq автооблучения\grqq высокоэнергетической составляющей из общего потока осаждаемых атомов Со, свойственной для процесса ионно-лучевого распыления в высоком вакууме, доля которых не превышает 10% от общего потока, для которых средняя длина пробега в растущем слое Co составляет 0.8 nm, а в Si --- 1.2 nm. Обсуждаются условия использования пленок Co из переходного интервала значений толщин 0.8 nm для инжекции спин-поляризованного тока в Si при комнатной температуре.

PACS: 75.70.Ak, 76.50+g, 85.25.Dq

 PDF версия (480Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2009, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster